Gebraucht ORC MEM-5296D #9130829 zu verkaufen

ORC MEM-5296D ist eine Ausrüstung für Wafertests und messtechnische Rasterelektronenmikroskope (SEM), die für die Bildgebung und Auswertung der Mikrostrukturen verschiedener fortschrittlicher Materialien entwickelt wurde. Es ist ein vollautomatisches System mit integriertem 5-Achsen-SEM-Goniometer, das präzise und effiziente Messungen von Kristallstrukturen, Korngrenzen und anderen feinen Strukturen ermöglicht. Die Einheit wird auch mit 15kV FEG (Feldemissionspistole) Elektronquelle und eine hochauflösende, schnelllaufende Bildaufbereitungsmaschine ausgestattet, die Bilder mit der hohen dynamischen Reihe und hohen Unähnlichkeit versorgt. MEM-5296D verwendet eine neue Technologie, bekannt als Digital Image Correlation (DIC), um die Oberflächentopographie eines Materials genau zu messen und Dehnungs- und Mikrostrukturveränderungen zu erkennen und zu analysieren. Es ermöglicht dem Anwender, verschiedene Materialien mit hoher Empfindlichkeit und Genauigkeit zu analysieren und zu vergleichen. Das Tool kann auch eine breite Palette von Daten erfassen, einschließlich Röntgenspektren, Atomkraftmikroskopie-Daten, Raman-Spektroskopie-Daten und optische Mikroskopie-Daten. Das Asset verfügt über mehrere Betriebsmodi. Dazu gehört ein Beispielanalysemodus zum Vergleich von Proben in verschiedenen Umgebungen; einen statischen Abtastmodus zum Erzeugen einer Serie von Bildern unter verschiedenen Vergrößerungen und Winkeln; einen zeitgesteuerten Abtastmodus zum Erfassen einer Sequenz von Bildern über die Zeit; und einen Schrittabtastmodus zum Erfassen von Bildern mit unterschiedlichen Neigungen und Schritten. ORC MEM-5296D verfügt zudem über eine benutzerfreundliche Oberfläche und eine umfassende Suite an Analyse- und Visualisierungssoftware, um die Bedienung des Modells einfach und effizient zu gestalten. Die Software kann auch verwendet werden, um Daten aus dem Gerät zu analysieren und zu visualisieren und Berichte bereitzustellen. MEM-5296D ist ein ausgezeichnetes Werkzeug zur Analyse und Bewertung der Mikrostrukturen und Eigenschaften verschiedener fortgeschrittener Materialien. Es ist ein vielseitiges und leistungsfähiges System, das genaue und umfassende Daten für fortschrittliche Materialforschung und -entwicklung bereitstellen kann. Das integrierte 5-Achsen-SEM-Goniometer bietet hohe Präzision und schnelle Ergebnisse, während die digitale Bildkorrelationstechnologie ein einzigartiges Maß an Empfindlichkeit und Genauigkeit bietet. Das Gerät verfügt zudem über eine umfassende Analyse- und Visualisierungssoftware, mit der der Benutzer die Daten schnell und genau analysieren und auswerten kann.