Gebraucht ORC MEM-5296D #9243762 zu verkaufen

ID: 9243762
Weinlese: 2006
Bump height measurement systems 2006 vintage.
ORC MEM-5296D Wafer Testing and Metrology Equipment von Orion ist ein doppelt verwendbares, hochgradig anpassbares und präzises Wafer-Testsystem. Die Einheit besteht aus zwei Hauptprüfkomponenten, einer fortschrittlichen optischen Maschine und einem Wafer-Testkopf. Das optische Werkzeug besteht aus einer rotierenden mehrachsigen optischen Struktur, einem 4-achsigen Manipulator mit hoher Bewegungsgenauigkeit, präzisen linearen/drehbaren Stufen und einem 6-achsigen monolithischen optischen Zug. Diese hohe Genauigkeit des optischen Geräts vereinfacht die Rüst- und Ausrichtungszeiten und macht empfindliche Bedienereinstellungen überflüssig. Mit einem einstellbaren Arbeitsbereich von bis zu 12,7 mm eignet sich dieses Modell gut für Produktions- und Entwicklungswafer verschiedener Größen. Der Wafer-Testkopf beinhaltet eine eingebaute automatische fiducial-Detektion zur wiederholbaren Ausrichtung von Wafern. Der Prüfkopf ist mit Wafer-Ausrichtungsgenauigkeit von bis zu 10nm, mit hoher Präzision, leistungsgesteuerte Sonde Fähigkeiten ausgestattet. Dieser automatisierte Prüfkopf wurde entwickelt, um den Durchsatz für Wafertests mit minimalem Eingriff des Bedieners zu erhöhen. Ein integrierter Messprozessor ermöglicht es dem Prüfkopf, Wafermessungen mit hoher Genauigkeit zu filtern und zu vergleichen. Das Gerät liefert sofort verfügbare Echtzeitdaten an den Bediener, einschließlich Parametermessungen, Kartenplotting, durchschnittlicher Graphing und detaillierter digitaler Bildgebung. Dieses Websitesystem ist kompatibel mit Standard-fab-Software-Frameworks wie OPC, GEM, SECS-II und HM1512A für Echtzeit-Testinformationen. Es verfügt über kostenlose Kollisionserkennungsfunktionen mit einem Knopfdruck, die unbeabsichtigte Abstürze beseitigen und wiederholbare Testergebnisse liefern. Die Kombination aus hochpräziser, automatisierter Wafer-Prüfung und Echtzeit-Messverarbeitung mit der Kombination der fortschrittlichen Optik von MEM-5296D macht sie zu einer idealen Lösung für Wafer-Prüf- und Messtechnik-Anwendungen. Seine Präzision, Genauigkeit und Flexibilität ermöglichen die Prüfung und Messtechnik einer breiten Palette von Wafergrößen und Prüfparametern, ohne dass empfindliche Bedienereinstellungen erforderlich sind.
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