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ORC MEM-5296D ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik von ORC Systems, einem führenden Anbieter von Prüf- und Messtechnik. Das System bietet eine Reihe fortschrittlicher Funktionen, die Produktionstests, Prozesskontrolle und Datenanalyse verbessern. MEM-5296D ist eine vollautomatisierte Einheit, die zur Optimierung der Produktionseffizienz in bestehende Montagelinien integriert werden kann. Es ist mit einer umfassenden Suite modernster Hardwarekomponenten ausgestattet, darunter eine leistungsstarke Bildverarbeitungsmaschine, mehrstufige Controller, Laserinterferometer und Lichtmikroskop. Dies ermöglicht es, kleine Partikel, Defekte und andere Eigenschaften in einer Vielzahl von Komponenten und Materialien genau zu messen, zu untersuchen und zu kontrollieren. ORC MEM-5296D bietet eine Reihe von Test- und Messtechnikoptionen, um Fertigungsprozesse zu optimieren und die Produktion zu beschleunigen. Es erstellt Live-Bilder mit dem Laser-Interferometer und Mikroskop, so dass Ingenieure und Bediener leicht überprüfen und charakterisieren Partikel und Defekte. Das Werkzeug kann mehrere Tests und Messungen gleichzeitig durchführen, einschließlich Oberflächenanalyse, Oberflächenrauhigkeit und Partikelgrößenverteilung (PSD). Sie unterstützt auch Prozessstabilitätsbewertungen auf Waferebene und Ertragsmanagement. Um die Genauigkeit der Testergebnisse sicherzustellen, verfügt MEM-5296D über eine Kalibriereinrichtung, die eine automatische automatische Kalibrierung und Überprüfung aller Stufen während des Tests ermöglicht. Darüber hinaus verfügt es über umfassende Datenverwaltungs- und Speicherfunktionen, die eine einfache Speicherung und Abfrage vergangener Ergebnisse ermöglichen. Darüber hinaus ist ORC MEM-5296D mit einem großen Display und einer intuitiven Benutzeroberfläche ausgestattet, was die Modellkonfiguration und -bedienung vereinfacht. Das Gerät arbeitet unabhängig von einem externen Computer und minimiert die Notwendigkeit eines häufigen Eingriffs des Bedieners während der Prüfung. MEM-5296D ist in der Lage, eine breite Palette von Substraten zu testen, einschließlich Halbleiterscheiben und -chips, Leiterplatten und Hybriden. Die modernsten Funktionen, die robuste Hardware und die anpassbare Software machen es ideal für Automobil-, Industrie- und Luftfahrtanwendungen. Das System bietet erweiterte Testfunktionen und eine verbesserte Benutzerkontrolle und ist ideal für Unternehmen, die ihre Produktionsprozesse optimieren möchten.
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