Gebraucht ORC MEM-5926D #9017908 zu verkaufen

ORC MEM-5926D Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein robustes eigenständiges System für fortschrittliche Oberflächenprüf- und messtechnische Anwendungen. Die vollautomatisierte Einheit wurde entwickelt, um schnelle und genaue Genauigkeit für Messungen von Abmessungen, Fehlerabdeckung, Oberflächentopographie und anderen entscheidenden Metriken von Wafergeräten wie Halbleiterwerkzeugen zu bieten. Die Maschine verwendet eine Kombination aus fortschrittlichen, automatisierten Messwerkzeugen, um genaue und zuverlässige Daten zu erhalten. Es verfügt über hochauflösende Kameras und erweiterte Optik, um Fotomikrographen feiner Funktionen wie Kratzer, Nadelöcher, Gruben und andere Oberflächenmerkmale zu erfassen. Es bietet auch eine Vielzahl von Bildverarbeitungsoptionen wie Bildschärfefilter, Kontrastverbesserung und andere Bildverbesserungstechniken. Das Werkzeug ist mit einem fortschrittlichen 3-Axis und einem hochauflösenden optischen Mikroskop ausgestattet, das sowohl in der Ebene als auch außerhalb der Ebene Messungen erfassen kann. Dies gewährleistet eine präzise Ausrichtung der Probe auf die Messungen und bietet eine hohe Genauigkeit in der messtechnischen Analyse. Darüber hinaus umfasst das Asset eine breite Palette von Sonden für On-Wafer-Tests und Datenerfassung. MEM-5926D bietet auch Röntgenfluoreszenz (XRF) als Testoption für die elementare Zusammensetzungsanalyse von dielektrischen Schichten, aufgrund seiner Fähigkeit, die Absorption von Röntgenstrahlen von Elementen innerhalb der Probe zu messen. Mit dieser Funktion können Benutzer die durchschnittliche Zusammensetzung einer Ebene schnell und genau bestimmen. ORC MEM-5926D bietet umfassende Datenausgabe- und Analysefunktionen. Es ermöglicht Anwendern, umfassende Qualitätsberichte mit Fehleranalyse und Fehlerbewertung zu erstellen. Neben den anderen Funktionen kann das Modell auch mit verschiedenen Software-Tools wie Fehleranalyse und Wafer-Reparatur-Software ausgestattet werden, so dass Benutzer Fehlerursachen analysieren und autonom defekte Oberflächen reparieren können. MEM-5926D Wafer Testing and Metrology Equipment wurde entwickelt, um zuverlässige Ergebnisse unter verschiedenen Testbedingungen zu liefern. Es ist perfekt für Hochvolumen-Halbleiter-Produktionslinien, Forschungsinstitute und andere Einstellungen, die genaue Prüf- und Messtechnik-Daten erfordern.