Gebraucht ORC MEM-5926D #9080493 zu verkaufen

ORC MEM-5926D
ID: 9080493
Bump height measurement systems.
ORC MEM-5926D ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die zur Qualitätskontrolle und präzisen Messungen für die Halbleiterherstellung entwickelt wurde. Hochzuverlässige und genaue Ergebnisse werden durch die innovativen Eigenschaften und die Leistung des Systems erzielt, die umfangreiche Messparameter, hohe Durchsatzkapazitäten und Datenerfassung für die Qualitätskontrolle und Prozessüberwachung umfassen. Die fortschrittliche Optik des Geräts bietet eine echte spektrale Analyse optischer Signale, die Genauigkeit und Wiederholbarkeit bei allen Messungen ermöglichen. Eine leistungsstarke Laserquelle eignet sich zur Erkennung von Defekten mit einem benachbarten Lasermodul, während eine hohe Abtastrate eine schnelle und genaue Ergebniserfassung ermöglicht. Eine voll ausgestattete intuitive Benutzeroberfläche bietet eine schnelle Einrichtung und Einrichtung für optisch-elektrische Messungen, während dedizierte Software (MultiGauge) eine einfache Datenmanipulation, Signalverarbeitung und Datenspeicherung/-abruf ermöglicht. MEM-5926D ist mit einer leistungsstarken Echtzeit-3D-Bildverarbeitungsmaschine konzipiert, mit der Anwender komplexe Wafer- oder Gerätestrukturen mit hoher Präzision messen können. Darüber hinaus ist das Werkzeug mit einer breiten Palette von automatisierten und manuellen Probern kompatibel und gewährleistet eine gute Passform für praktisch jede Wafer-Testanwendung. Das 7-Achsen-Prober-Asset von ORC MEM-5926D gewährleistet einen hohen Durchsatz und eine präzise automatisierte Sondierung, die schnelle und sich wiederholende Messungen mit minimalen Fehlern ermöglicht. Darüber hinaus bietet das Modell eine hervorragende Funktionalität für die Wafer-Karten und ermöglicht ein schnelles Umschalten zwischen ihnen, wodurch eine schnelle und genaue Datenerfassung und -reduzierung gewährleistet ist. MEM-5926D Geräte bieten auch die neueste PCI Express-Technologie, die eine leistungsfähigere Steuerung und verbesserte Datenverwaltung ermöglicht. ORC MEM-5926D ist mit seiner branchenführenden Leistung und seiner hervorragenden Flexibilität eine ideale Wafertest- und messtechnische Lösung für die Halbleiterindustrie.
Es liegen noch keine Bewertungen vor