Gebraucht PHASE SHIFT TECHNOLOGY OptiFlat #9244626 zu verkaufen

PHASE SHIFT TECHNOLOGY OptiFlat ist eine fortschrittliche, mehrdimensionale, Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es bietet hochpräzise Lasererkennung, nanometrisch-genaues Scannen und schnelle Datenverarbeitungsfunktionen. Diese Technologie nutzt die Phase-Shift-Laser-Profilierung, um die Topographie zerstörungsfrei zu messen und reiche, zuverlässige und wiederholbare geometrische Daten zur Prozesssteuerung und Ausbeute zu liefern. Das OptiFlat-System ist mit einem Wegsensor im Nanometermaßstab und erweiterten Bildverarbeitungsalgorithmen ausgestattet. Auf diese Weise können die Systeme präzise Laserprofile von Waferoberflächen annehmen sowie feine, nanomorphe Strukturen wie lokale Hotspots oder Defekte abbilden. Es kann die Oberflächentopologie mit Nanometergenauigkeit abbilden und ermöglicht eine präzise Datenerfassung und -analyse. PHASE SHIFT TECHNOLOGY reduziert die Durchlaufzeit und erhöht die Inspektionsgeschwindigkeit bei gleichzeitig hochpräzisen und gleichmäßigen Ergebnissen. Es kann auch Fehler und Hotspots in einer Vielzahl von Materialien, Substraten und Größen messen. Die PHASE SHIFT TECHNOLOGY OptiFlat liefert mit ihrer Hochgeschwindigkeits-Scanfähigkeit detailliertere Informationen als herkömmliche berührungslose Messungen wie Laserinterferometrie. OptiFlat verfügt zudem über eine Reihe von Funktionen, um die Datengenauigkeit zu gewährleisten und die Datenverarbeitung zu beschleunigen. Es verfügt über eine automatische Ausrichteinheit für einfaches Setup und Kalibrierung. Die Datenmaschine bietet auch Echtzeit-Analyse und Reporting mit automatisierter Verfolgung und Datenprotokollierung. PHASENSCHIEBETECHNOLOGIE Das OptiFlat-Werkzeug eignet sich für Wafertest- und messtechnische Aufgaben in der Halbleiterindustrie. Es kann subtile Veränderungen in der Oberflächentopologie erkennen, die zu Ertragsdefekten führen können. Seine Präzisions-Nanometer-Messfähigkeiten ermöglichen eine korrekte Bewertung von Eigenschaften wie Dünnschichtverarbeitungsfehler, Oberflächenfehler und andere Oberflächenmerkmale. Es ist ein wertvolles Werkzeug für Produktbewertung, Prozessentwicklung und Prozesssteuerung. Mit seiner hochpräzisen Lasererkennung, dem nanometrischen Scannen und der schnellen Datenverarbeitung ist OptiFlat asset ein leistungsstarkes Werkzeug für Wafertests und messtechnische Anwendungen. Es bietet eine zuverlässige, wiederholbare und genaue Methode, um Oberflächentopologie und Defekte mit hoher Geschwindigkeit zu messen. Dieses mehrdimensionale Modell liefert unschätzbare Daten für Prozesskontrolle, Ertragsverbesserung und Produktbewertung.