Gebraucht PHILIPS IR-3100 #9093385 zu verkaufen

PHILIPS IR-3100 ist ein modernes Wafer-Prüf- und Messtechnikgerät, das Geschwindigkeit, Genauigkeit und Flexibilität für die Gerätekennzeichnung, Charakterisierung der Materialeigenschaften und Messtechnik von Wafern im Nanoskalibereich bietet. Das System verfügt über eine benutzerdefinierte optomechanische Ausrichtung und Auswahl der optischen Scaneinheit, so dass der Benutzer eine hohe laterale Auflösung und einen dynamischen Bereich erreichen kann. IR-3100 enthält auch fortschrittliche Software-Algorithmen für die automatisierte Oberflächenprofilierung und Qualitätssicherung sowie integrierte Werkzeuge für die schnelle Probenvorbereitung. Die Maschine ist mit einem Breitfeld-Bildgebungswerkzeug und einer Präzisions-Nanopositionsstufe mit einem Gantry-basierten Design und kundenspezifischen Montagevorrichtungen ausgestattet, die eine großflächige Probenahme ermöglichen. Diese Kombination aus Abbildungsoptik und Bühne ermöglicht Geschwindigkeit und Wiederholbarkeit in Wafertests und Messtechnik. Das Modell ist außerdem mit einem variablen Scan-Modus ausgestattet, mit dem Benutzer die seitliche Auflösung für unterschiedliche Abtastanforderungen anpassen können. Der Variable-Step-Scan-Modus bietet zudem Flexibilität für verschiedenste Materialien und Oberflächenstrukturen. PHILIPS IR-3100 ist mit einem integrierten Spektroskopie-Instrument verpackt, das eine Echtzeitanalyse der Probenreflexion ermöglicht. Damit können Anwender eine wellenlängenaufgelöste und wellenlängenüberlappte optische Spektroskopie zur Charakterisierung von Materialien im Nanoskalibereich durchführen. IR-3100 verfügt auch über eine erweiterte Mustersteuerung, mit der Benutzer ihre Oberflächentesteinstellungen anpassen können. Eine „adaptive Messtechnik“ -Funktion passt die Bildgebungsparameter automatisch an sich ändernde Oberflächenbedingungen an und sorgt so für eine qualitativ hochwertigste Datenerfassung. PHILIPS IR-3100 ermöglicht effiziente und schnelle Wafertests und Messtechnik. Neben der Bereitstellung eines integrierten Spektroskopie-Instruments haben Anwender die Wahl zwischen mehreren Sampling-Ansätzen mit Echtzeit-Datenerfassung und -analyse. Die fortschrittlichen Algorithmen und die Mustersteuerungssoftware machen die Geräte besonders für automatisierte Messungen und Qualitätssicherungsaufgaben geeignet. Der Variable-Step-Scan-Modus macht das System zu einer guten Wahl für eine breite Palette von Materialien und Oberflächenstrukturen, so dass Benutzer Zeit sparen und die Genauigkeit bei der Einrichtung von Testgeräten erhöhen können.