Gebraucht PHOSEON MX1002 #9226706 zu verkaufen

PHOSEON MX1002
ID: 9226706
Wafergröße: 6"
Infrared Automated Optical Inspection (AOI) system, 6".
PHOSEON MX1002 ist eine High-End-Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für die Halbleiterindustrie. Es wurde entwickelt, um die Eigenschaften von Substraten wie Wafern, Siliziumchips oder anderen Materialien zu messen. Dieses System verfügt über einen fortschrittlichen optischen Messtechnikkopf, der Laserinterferometrie und optisches Profilieren zur hochauflösenden Abbildung von Substraten verwendet. Es führt großflächige Tests wie Interschicht-Messtechnik, Foliendickenmessungen und Fehlererkennung bei hoher Vergrößerung durch. Das Gerät verfügt über eine 7-Achsen-Kinematik-Konstruktion, die eine Fahrt von bis zu 2000mm sowohl in X- als auch in Y-Achsen ermöglicht. Dies ermöglicht eine große Messfläche. Der Optikkopf bietet zudem eine variable Brennweite mit einer maximalen Vergrößerung von 250x und einer einstellbaren Laserleistung bis 40mW. Die Optikmaschine selbst wird mit hochpräzisen Ausrichtungskomponenten kalibriert und konstruiert. MX1002 ist außerdem mit einer hochmodernen Sensorsuite ausgestattet, die einen digitalen Linearcodierer für Abstandsmessungen, einen 64-Kanal-Kapazitätssensor für die Bildanalyse und einen temperaturkompensierten Kapazitätssensor umfasst. Diese Sensor-Suite bietet eine breite Palette von Messungen, von der Oberflächenrauhigkeit bis zu Tiefenprofilen. PHOSEON MX1002 verwendet außerdem eine leistungsstarke Software-Suite, die die von den Sensoren gesammelten Daten analysiert. Diese Software umfasst erweiterte statistische Analysefunktionen sowie leistungsstarke Tools für die Nachbearbeitung von Daten. Die Software enthält auch eine Scan-Recorder-Funktion, die Daten bis zu zwanzigmal schneller als Standard-Raten speichern kann. MX1002 ist ein leistungsstarkes Werkzeug, das auf die Bedürfnisse der Halbleiterindustrie zugeschnitten ist. Mit seiner hochpräzisen Optik, komplexen Sensor-Suite und leistungsstarker Software kann es verwendet werden, um eine Vielzahl von Substraten genau und schnell zu messen.
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