Gebraucht PRINCETON APPLIED RESEARCH / PAR 410 #77229 zu verkaufen

PRINCETON APPLIED RESEARCH/PAR 410 ist eine vielseitige und innovative Wafer-Prüf- und Messtechnik, die in der Lage ist, hochpräzise Messungen von vielen verschiedenen Parametern auf Wafern während der Produktion bereitzustellen. Das System verwendet eine fortschrittliche optische Konfiguration, die mehrere Laser, Kameras und Detektoren umfasst, um sowohl elektrische als auch optische Eigenschaften des Wafers mit viel Genauigkeit und Konsistenz zu messen. PAR 410 hat die Fähigkeit, eine breite Palette von physikalischen und elektrischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben zu messen. Zu den elektrischen Eigenschaften gehören unter anderem dielektrische Eigenschaften, Widerstand und Beweglichkeit. Zu den optischen Eigenschaften gehören Reflektivität und Durchlässigkeit, mit denen die chemischen und mechanischen Eigenschaften der Wafer charakterisiert werden können. Das Gerät ist auch in der Lage, Messungen von strukturierten Wafern mit einer hohen räumlichen Auflösung und Wiederholbarkeit durchzuführen. PRINCETON APPLIED RESEARCH 410 bietet auch eine breite Palette von Funktionen für Benutzer, wie Geräte-Programmierschnittstelle (DPI), eine benutzerfreundliche grafische Oberfläche, und eine robuste Bibliothek von Tests. Der DPI ermöglicht es Endbenutzern, die verschiedenen Geräte auf der Maschine zu steuern und Testprogramme anzupassen sowie Daten aus dem Tool herunterzuladen und zu speichern. Darüber hinaus erleichtert die benutzerfreundliche grafische Oberfläche dem Benutzer die schnelle Visualisierung von Daten und unterstützt die Analyse seiner Ergebnisse. Die robuste Bibliothek der Tests, die in der Anlage enthalten sind, macht es Anwendern schnell und einfach, Tests für die Wafer einzurichten, die sie messen, so dass sie weniger Zeit damit verbringen, das Modell zu konfigurieren und mehr Zeit für die Analyse ihrer Ergebnisse. Darüber hinaus verfügt das Gerät über ein automatisiertes Kalibriersystem, mit dem Benutzer das Gerät leicht neu kalibrieren können, um eine gleichbleibende Genauigkeit und Zuverlässigkeit ihrer Messungen zu gewährleisten. Zusammenfassend ist 410 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine eine vielseitige und zuverlässige Lösung für die Messung eines breiten Spektrums von physikalischen und elektrischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben. Die fortschrittliche optische Konfiguration, die robuste Testbibliothek, die benutzerfreundliche grafische Oberfläche und das automatisierte Kalibrierwerkzeug machen es zu einer idealen Wahl für die Qualitätskontrolle und Produktionstests von Halbleiterscheiben.