Gebraucht PSS AccuSizer 780 APS #9298953 zu verkaufen

PSS AccuSizer 780 APS ist ein Wafer-Prüf- und Messsystem, das für die genaue Prüfung und Messtechnik von Wafer Edge Profiling (WEP), Wafer Flatness Measurement (FMM) und Dünnschicht-Ungleichförmigkeitsmessungen entwickelt wurde. Mit PSS AccuSizer 780 können Anwender das Kantenprofil eines Wafers schnell und genau analysieren, die Ebenheit des Wafers bestimmen und die Ungleichmäßigkeit des dünnen Films auf dem Wafer messen. Das Ergebnis der Messungen ist eine genaue Darstellung der Form und Dicke des Wafers, was für die Prüfung und Kalibrierung von Prozessen hilfreich ist. AccuSizer 780 APS verwendet fortschrittliche Scanlaser-Konfokalmikroskopie und digitale Bildverarbeitungstechnologie, um die hochpräzisen Messungen zu ermöglichen. Das Gerät ist mit einem 75mm optischen Detektionsbereich ausgestattet, der eine Probengröße von bis zu 4 'Breite abdeckt. Es beinhaltet auch ein umfangreiches Spektrum von Fokusdetektionstechniken, die präzise Messungen der Waferdicke von 0,2um bis 30um ermöglichen. Darüber hinaus hat der PSS AccuSizer 780 APS eine Scangeschwindigkeit von 238,6 mm/sec. AccuSizer 780 APS ist ein wichtiges Werkzeug für jede Einrichtung, die sich mit Wafertests und Messtechnik befasst. Durch die Verwendung seiner fortschrittlichen bildgebenden und konfokalen Mikroskopie-Fähigkeiten können Anwender genaue und zuverlässige Messungen garantieren. Das Gerät verfügt zudem über eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche, die die Einrichtung und Bedienung einfach und effizient macht. Das robuste Design des Geräts und die erhöhte Scangeschwindigkeit tragen zu seiner Gesamteffizienz und Zuverlässigkeit bei. Darüber hinaus verfügt der PSS AccuSizer 780 APS über eine temperaturgeregelte Umgebung, die eine Waferanalyse und messtechnische Messungen in einer optimalen Umgebung gewährleistet. Zusammenfassend ist AccuSizer 780 APS ein modernes Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das die genaue und durchsatzstarke Messung von Wafergrößen und Dünnschichtungleichförmigkeit ermöglicht. Es ist mit einer breiten Palette von Fokuserkennungstechniken, einem umfangreichen Erkennungsbereich und einer schnellen Scangeschwindigkeit ausgestattet. Es ist ein zuverlässiges und einfach zu bedienendes System, das es zu einem wichtigen Werkzeug für jede Anlage macht, die sich mit der Herstellung und Messtechnik von Wafern beschäftigt.