Gebraucht RAYTEX RXW-1226SFI #293591340 zu verkaufen

RAYTEX RXW-1226SFI ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für die Messung eines breiten Spektrums von Parametern wie Plattenwiderstand, Plattenwiderstandsgleichförmigkeit, Blechdicke, PRAM und Spannung entwickelt wurde. Das System verfügt über einen großen 200mm x 200mm Werkstückträger, der automatisch auf die Werkstückoberfläche kalibriert und eine vollautomatische Prüfung ermöglicht. Darüber hinaus bietet das Gerät programmierbare Scan-Geschwindigkeit und Beschleunigung, so dass der Benutzer Testparameter basierend auf der spezifischen Anwendung anpassen. Das Gerät verfügt über ein optisches Stereomikroskop mit 12,3 MP mit einem Zoom von 150 bis 500x, einem kleinen Neigungswinkeleinstellbereich und einer automatisierten Fokuseinstellung. Es ist auch in der Lage, SEM-Leckagemessungen durchzuführen, die eine detaillierte Analyse von Mikrostrukturen und Defekten ermöglichen. Das Mikroskop umfasst auch ein in sich geschlossenes Wafer-Futter und XY-Stufen, die präzise Messungen in zwei Achsen mit einer Auflösung von 0,1 um/Schritt ermöglichen. RAYTEX RXW 1226SFI ist auch mit einem Vakuum-Wafer-Verdampfer ausgestattet, der die direkte Übertragung von Wafern vom Probenträger auf das Mikroskop ermöglicht. Diese Funktion ermöglicht das schnelle Be- und Entladen von Werkstücken, was die Rüstzeit und den Arbeitsaufwand erheblich reduziert. Das Gerät ist mit einer breiten Palette von Materialien kompatibel, so dass sowohl organische als auch anorganische Filme während der Prüfung verwendet werden können. RXW-1226SFI ist ideal für Anwendungen, die präzise Messungen von Mikrostrukturen und Defekten auf einer Vielzahl von Substraten erfordern. Seine intuitive Schnittstelle und automatisierte Kalibrierung ermöglichen eine einfache Bedienung und schnelle Tests, während sein 500faches optisches Mikroskop und die SEM-Leckageanalysefähigkeit eine detaillierte Analyse von Proben ermöglichen. Der Vakuum-Wafer-Verdampfer der Maschine ermöglicht auch schnelles Be- und Entladen, ermöglicht schnelle Tests und verkürzt die Rüstzeit.