Gebraucht RIGAKU MFM65 #9133012 zu verkaufen

RIGAKU MFM65 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die eine umfassende Palette von Fähigkeiten zur Messung der elektrischen, optischen und mechanischen Eigenschaften von Halbleiter-, optischen und anderen fortschrittlichen Materialien bietet. Dieses anspruchsvolle System kombiniert hochpräzise Mess-, Software- und Bildgebungstechniken, um zuverlässige Messungen im Nanobereich zu generieren. Zur Bestimmung der Eigenschaften eines Wafers führt RIGAKU MFM 65 Messungen mit einem Rastertunnelmikroskop (STM) durch. Dieses hochauflösende STM arbeitet im berührungslosen Modus, um die Waferprobe nicht zu beschädigen. Die Sonde des Mikroskops besteht aus einer Aluminium-Gold-Legierung, um den Verschleiß auf der Waferoberfläche zu reduzieren. Die Sonde wird dann über die Oberfläche des Wafers gerichtet, wobei ihr elektrischer Strom und ihre Eigenschaften beim Bewegen abgetastet werden. MFM65 verwendet auch Scanning Force Microscopy (SFM), um die physikalischen Eigenschaften eines Wafers zu messen. SFM besteht darin, die Oberfläche eines Wafers mit einer speziellen Sonde zu scannen und seine mechanischen Eigenschaften zu messen, während die Spitze über die Oberfläche bewegt wird. Auch diese Technik ist hochpräzise und kann Veränderungen der Oberflächenstruktur eines Wafers im Nanometermaßstab erkennen. MFM 65 kann auch spektroskopische Messungen an einer Waferprobe durchführen, wie die Messung des Absorptions- und Reflexionsspektrums eines Materials. Dies geschieht, indem ein Lichtimpuls auf den Wafer gerichtet wird, der dann ein Wellenlängenspektrum zurückreflektiert, das jeweils eine eindeutige Information über die Eigenschaften des Wafers enthält. RIGAKU MFM65 ist auch in der Lage, elektrische und optische Eigenschaften auf der Nanoskala zu messen - Merkmale, die für den Erfolg der Wafer-Prüfung und Messtechnik wesentlich sind. Schließlich verfügt RIGAKU MFM 65 auch über integrierte Datenverarbeitungsfunktionen. Mit einer optimierten Softwareeinheit werden die von der Instrumentierung gesammelten Daten analysiert und interpretiert. Die Daten werden dann verwendet, um detaillierte Berichte zu erstellen, die es den Forschern ermöglichen, die Eigenschaften des Wafers besser zu verstehen. MFM65 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine ist ein ausgeklügeltes Werkzeug zur Charakterisierung der physikalischen Eigenschaften von Wafern im Nanobereich. Dieses Tool kombiniert Präzisionsmess- und Bildgebungstechniken mit effektiver Datenanalysesoftware, um zuverlässige Wafermessungen zu erzeugen. Diese Ressource bietet Forschern und Ingenieuren einen unschätzbaren Einblick in das Verhalten von Materialien in einer Vielzahl von Branchen.