Gebraucht RUDOLPH MetaPulse 200 #293766451 zu verkaufen

RUDOLPH MetaPulse 200 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein automatisiertes System, das speziell für Tests und messtechnische Anwendungen von Halbleiterscheiben und anderen verwandten Substraten entwickelt wurde. Dieses Gerät bietet hochauflösende Bildgebung und eine Stufenscanner-Maschine zur Prüfung und Analyse von künstlichen Strukturen. Es ist in der Lage, beide Seiten einer Matrize zu scannen, so dass es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist, einschließlich Messverfahren auf der Ebene der Matrizen und Fehlerüberprüfung. Das Werkzeug verwendet hochauflösende Optik in Kombination mit direkter Bildgebungstechnologie, damit der Benutzer sowohl die Ober- als auch die Unterseite hochauflösende Bildgebung eines Halbleiters oder eines anderen Substrats durchführen kann. Bilder können bei Auflösungen bis zu 25nm erstellt werden, und das Asset verfügt über eine Vielzahl von anpassbaren Parametern je nach spezifischer Anwendung. Das Modell verfügt auch über eine automatisierte Stufenscanner-Ausrüstung, die es einem Benutzer ermöglicht, einen gesamten Bereich einer Matrize oder mehrere Matrizen an einem einzigen Ort zu scannen. Dieses Scansystem ermöglicht eine hochgenaue und schnelle Überprüfung einer großen Fläche in kurzer Zeit. Das Gerät ist mit einer Vielzahl von Datenerfassungs-Hardware und Software ausgestattet, so dass der Benutzer die Ergebnisse mehrerer Tests analysieren und vergleichen kann. Darüber hinaus verfügt die Maschine über mehrere Analysesuiten, mit denen der Anwender Messgrößen wie kritische Dimensionen (CD), Kantenschwellenmessungen, Granularitätsmessungen, statistische Analysen und vieles mehr analysieren kann. RUDOLPH META PULSE 200 bietet auch eine Vielzahl von Schnittstellenoptionen, die dem Benutzer eine einfache Verbindung zu externen Systemen und Datenbanken ermöglichen. Das Tool ist mit einer breiten Palette von Computern und Betriebssystemen kompatibel und ermöglicht die Kompatibilität mit praktisch jeder vorhandenen Infrastruktur. Das Asset bietet auch Unterstützung für eine Vielzahl von automatisierten Datenimport/-export-Formaten, wodurch es einfach ist, Ergebnisse mit anderen Benutzern zu speichern, zu analysieren und zu teilen. Insgesamt ist MetaPulse 200 Wafer Testing and Metrology Model eine komplette Ausrüstung, die für schnelle, genaue und zuverlässige Datentests entwickelt wurde. Neben der automatisierten Stufenscanner-Technologie bietet das System auch eine Reihe fortschrittlicher Datenanalyseoptionen, mit denen Benutzer schnell Ergebnisse überprüfen und eine genaue Prozesskontrolle in einer Vielzahl von Anwendungen erzielen können.