Gebraucht RUDOLPH MetaPulse 200 #9043700 zu verkaufen
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ID: 9043700
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2000
Thickness measurement system, 8"
Laser included
2000 vintage.
RUDOLPH MetaPulse 200 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die ungleiche Leistungsstufen, Genauigkeit und Innovation bietet, um die besten Lösungen für die anspruchsvollsten Anwendungen zu bieten. Das System ist so konzipiert, dass es eine umfassende Lösung für die Charakterisierung und Prüfung von Wafern bietet. Es verfügt über eine hochentwickelte, patentierte optische Bildgebungseinheit, die eine schnelle und genaue Abbildung physikalischer Parameter wie Topographie, Feuchtigkeit und Leitfähigkeit über die Oberfläche eines gesamten Wafers in Echtzeit ermöglicht. Die patentierte optische Abbildungsmaschine erfasst Bilder der Waferoberfläche mit einer Auflösung von 5 µm und ist in der Lage, dauerhafte topographische Informationen mit ausgezeichnetem Signal-zu-Rauschen zu erhalten. RUDOLPH META PULSE 200 bietet ein intuitives Benutzererlebnis, das die Konfiguration und Überwachung des Werkzeugstatus vereinfacht. Das intuitive Control-Asset verfügt über eine Touchscreen-Oberfläche und eine einfache Modus-Navigation, die eine schnelle Einrichtung, einfache Bedienung und schnelle Datenerfassung ermöglicht. Das Modell verfügt über eine flexible, modulare Plattform mit erweiterbaren Sensorfunktionen und ist kompatibel mit allen messtechnischen und Testmessanforderungen. Darüber hinaus bietet die Anlage überlegene Prozesskontroll- und Datenerfassungsfunktionen wie Probenahme- und Testmessungen für Messungen höchster Genauigkeit. Es ist mit einem robusten Softwarepaket ausgestattet, das die vollständige Kontrolle des Systems bietet, einschließlich Datenerfassung, Steuerung von Testgeräten und Kommunikation mit externen Systemen. Darüber hinaus bietet das Gerät eine sichere und zuverlässige Datenspeicherung und kann in andere RUDOLPH-Systeme integriert werden, was zu einem umfassenden messtechnischen Prozess führt. MetaPulse 200 enthält eine umfangreiche Bibliothek mit messtechnischen Informationen und Tests, die die Charakterisierung und Prüfung von Wafern nach Industriestandards ermöglicht. Die RUDOLPH-Suite von Softwareprogrammen ermöglicht es dem Bediener, für jedes Testverfahren Berichtsformulare zu erstellen, die Metriken wie SEM-Bilder, Zuordnung physikalischer Eigenschaften und 3D-Renderings bereitstellen. Dies ermöglicht eine schnelle und einfache Analyse der Wafereigenschaften und stellt sicher, dass die Testergebnisse den Spezifikationen der Industrie entsprechen. Die Genauigkeit der Maschine gewährleistet die Wiederholbarkeit der Ergebnisse. META PULSE 200 ist eine leistungsstarke und zuverlässige Lösung für Wafertests und messtechnische Anwendungen. Die fortschrittlichen Funktionen und das modulare Design ermöglichen eine einfache Konfiguration und Überwachung des Assets und ermöglichen eine zuverlässige Datenerfassung und -berichterstattung. Das Modell ist mit einer breiten Palette von Fähigkeiten ausgestattet, die effiziente und genaue Prüf- und Messtechnik ermöglichen.
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