Gebraucht RUDOLPH MetaPulse 200 #9227397 zu verkaufen

RUDOLPH MetaPulse 200 ist eine Präzisionswafer-Prüf- und Messtechnik für Halbleiterbauelemente. Es ermöglicht anspruchsvolle Messungen sowohl von IC-Chips als auch von Photolithographiemustern auf Wafern, einschließlich optisch flacher, dicker, dünner und mehrmaterieller Wafer. Das System bietet eine Kombination aus optischer Bildgebung, einer automatisierten Bewegungsstufe und Oberflächenprofilometrie für die Oberflächen- und Fehleranalyse. Ein großes Feld außerhalb der Achse Bilderzeugungseinheit nimmt Full-Chip-Bilder. Ergänzt wird dies durch eine 3-Achsen-Piezostufe zur Hinzufügung einer Präzisionskontrolle bei Fokussierung, Einrichtung und XY-Bildaufnahme. Mit Hilfe der automatisierten Oberflächenprofilometrie hilft ein automatisierter Fokus- und Einrichtungsassistent, die Bedienerzeit während der Wafertests zu reduzieren. Es soll bei der Entwicklung und Charakterisierung von Oberflächenmerkmalen und Mikrostrukturen helfen. Es nutzt das Prinzip der Mehrfachreflexion, um Bilder mit reduzierter Oberfläche und Pixelrauschen zu erfassen, was eine präzise Datenerfassung ermöglicht. Die Maschine enthält außerdem ein ultrahochauflösendes Oberflächenprofilometriemodul zur Erkennung kleiner Oberflächenunregelmäßigkeiten. Fortschrittliche Algorithmen werden zur Analyse der Oberflächentopologie und zur Messung der Tiefe und Größe von Fehlern verwendet. Dieses Modul kann auch verwendet werden, um die physikalische Geometrie von Strukturen zu analysieren und physikalische und elektrische Eigenschaften genau zu messen. Die Software des Tools bietet eine breite Palette leistungsstarker Analysewerkzeuge, mit denen Forscher Wafer-Proben schnell und genau visualisieren, analysieren und berichten können. Seine intuitive grafische Benutzeroberfläche ermöglicht es Benutzern, Daten einfach zu analysieren und Erkenntnisse mit anderen Systemen zu teilen. Neben der Datenerfassung und -analyse bietet RUDOLPH META PULSE 200 auch die Möglichkeit, Daten zur Weiterverarbeitung in verschiedene Drittanbieter-Softwarepakete zu exportieren. Die Anlage ist eine kostengünstige und zuverlässige Lösung für Wafer-Tests und Messtechnik und wurde entwickelt, um die Anforderungen der anspruchsvollsten Halbleiterhersteller zu erfüllen. Seine Genauigkeit, Geschwindigkeit und Flexibilität sind speziell auf zuverlässige Ergebnisse ohne Leistungseinbußen ausgelegt. Es ist das ideale Modell zur ultrapräzisen Messung von Wafern.