Gebraucht RUDOLPH MetaPulse 200 #9236527 zu verkaufen
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ID: 9236527
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1999
Thickness measurement systems, 8"
1998 vintage.
RUDOLPH MetaPulse 200 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für hochgenaue zerstörungsfreie Messungen von Wafereigenschaften und -mustern entwickelt wurde. Es ist eines der vielseitigsten verfügbaren Systeme und bietet eine Vielzahl von Werkzeugen zur Messung der Wafereigenschaften und Testergebnisse. RUDOLPH META PULSE 200 verwendet ein automatisiertes berührungsloses optisches Mikroskop zur Durchführung von Inspektionen, Messungen und Analysen. Es verwendet eine berührungslose Laser- und Kamerakombination, um die gesamte Waferoberfläche abzubilden, die eine präzise Ausrichtung und hochauflösende Abbildung der Testpersonen ermöglicht. Das System kann auch mit Vergrößerungsmöglichkeiten ausgestattet werden, die die Auflösung und Genauigkeit der Messung bis zu 250x erhöhen können. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine Vielzahl von Softwarepaketen für Wafer-Messtechnik, Wafer-Charakterisierung und Fehleranalyse. MetaPulse 200 bietet hohe Präzision und Wiederholbarkeit mit Partikel- und Wafer-Messtechnik. Es ist mit fortschrittlichen Kantenerkennungs-, Fehlerinspektions- und Mustererkennungsalgorithmen ausgestattet, um genaue Messungen von dünnen Linien, Kreisen und Kurven sowie Geweben und Partikeln in Metall- und Siliziumscheiben zu ermöglichen. Die Maschine ermöglicht es Kunden, Produktionsdaten einfach zu überwachen, zu analysieren und auf sie einzuwirken, mit Funktionen wie Berichtsgenerierung, Datenaustausch und Datenanalyse-Tools. Darüber hinaus stehen eine Vielzahl von Werkzeugen zur Prüfung, Überprüfung und Charakterisierung der Wafer während der Herstellung zur Verfügung, wie z.B. Waferreinigung, Oberflächenoptik und Kontaktwinkelprüfung. META PULSE 200 ist ideal für industrielle Anwendungen wie Flachbildschirme, medizinische Geräte und Halbleiterverpackungen. Es wurde entwickelt, um den Anforderungen verschiedener Produktionsumgebungen gerecht zu werden, und es wurde entwickelt, um rauen Bedingungen wie extremen Temperaturen, hoher Luftfeuchtigkeit und Staubaerosolen standzuhalten. Darüber hinaus verfügt RUDOLPH MetaPulse 200 über eine Vielzahl von Automatisierungsmöglichkeiten, mit denen Kunden Prozesse problemlos einrichten und ausführen können. Insgesamt ist RUDOLPH META PULSE 200 ein fortschrittliches Wafer-Test- und Messtechnik-Tool, das beispiellose Genauigkeit mit überlegener Flexibilität und Automatisierung kombiniert. Es bietet ein effizientes und zuverlässiges Toolset für Wafer-Messtechnik, Wafer-Charakterisierung und Fehleranalyse, das es Kunden ermöglicht, Produktionsdaten schnell und effektiv zu analysieren, darauf zuzugreifen und auf sie zu reagieren.
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