Gebraucht RUDOLPH MetaPulse 200 #9300363 zu verkaufen

RUDOLPH MetaPulse 200 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für die Charakterisierung und Prüfung von integrierten Schaltungen (ICs) auf Waferebene entwickelt wurde. Es ist ideal für die Analyse, Detektion und Messung verschiedener elektrischer Eigenschaften der ICs. RUDOLPH META PULSE 200 ist in der Lage, schnelle und zuverlässige Ergebnisse mit hoher Präzision zu liefern, so dass Benutzer Probleme und potenzielle ertragshemmende Defekte in ihren ICs aufdecken und identifizieren können. Das System umfasst eine hochauflösende 4-Achsen-Stufe für eine schnelle und genaue Bewegungssteuerung, ein spezielles Strahlausrichtungsmodul, eine hochintensive gepulste Laserquelle und eine beeindruckende Auswahl an optionalem Zubehör. Es verfügt auch über ein innovatives Bildverarbeitungs- und Mapping-Modul, das einen optischen 500-mm-Zoom umfasst, der eine bessere Oberflächenbeleuchtung ermöglicht, und eine 1200-Pixel-hochauflösende Bildverarbeitungseinheit, die es Anwendern ermöglicht, feine Details genau zu überprüfen. Die eng integrierten Hardware- und Softwarekomponenten der Maschine sorgen für konsistente und genaue Testergebnisse. Die kurze Pulsweitenlaserquelle des Werkzeugs wurde entwickelt, um eine wiederholbare und präzise Laserfleckpositionierung mit minimaler Beschädigung der zu testenden ICs zu ermöglichen. Das leistungsstarke Motorsteuermodul und die Laserleistungssteuerung ermöglichen es Anwendern, ICs auch bei extrem kleinen Formgrößen und komplexen, mehrschichtigen Konfigurationen genau zu testen. Das Asset verfügt zudem über umfassende Software, die Anwendern hilft, ICs schnell und zuverlässig genau zu testen. Diese Software bietet Anwendern On-the-Fly-Analysesysteme, die automatisierte Scan-, Analyse- und Reporting-Funktionen umfassen, die die Testzeiten erheblich verkürzen. Es bietet auch Visualisierung und Erkennung von fehlerhaften Schaltungen, die eine schnelle Isolierung und Reparatur von erkannten Problemen ermöglicht. Das Modell bietet Anwendern vollständige Datenrückverfolgbarkeit, so dass sie automatisch generierte Inspektionsergebnisse für zukünftige Referenzen speichern können. Darüber hinaus ermöglicht die benutzerfreundliche Oberfläche des Geräts es Anwendern, Tests schnell zu starten, Ergebnisse anzuzeigen und umfassende Berichte mit minimalem Aufwand zu erstellen. MetaPulse 200 ist ein ideales Wafer-Prüf- und Messsystem zur kostengünstigen IC-Charakterisierung und -Prüfung. seine innovativen Hardwarekomponenten, sein komplettes Softwarepaket und seine erweiterten Funktionen ermöglichen es Anwendern, ICs schnell und genau zu testen und sicherzustellen, dass Fehler und fehlerhafte ICs schnell isoliert und repariert werden.