Gebraucht RUDOLPH MetaPulse 200 #9302043 zu verkaufen

RUDOLPH MetaPulse 200 ist eine vielseitige Wafer-Test- und Messtechnik-Lösung für hohe Genauigkeit, Charakterisierung von Halbleiterbauelementen. Dieses Gerät kombiniert Funktionen wie hochauflösende Bildgebung, Wafertests, parametrische Analysen und berührungslose Sondierung und ermöglicht eine umfassende Charakterisierung und Qualitätskontrolle der heutigen fortschrittlichen Halbleiterbauelemente. Die intuitive, benutzerfreundliche Touchscreen-Oberfläche macht das Navigieren in der leistungsstarken Software einfach. Benutzer können aus vier verschiedenen Werkzeugkonfigurationen auswählen, die jeweils auf die spezifischen Anforderungen der Anwendung zugeschnitten sind, und das System an die spezifischen Parameter ihrer Anfrage anpassen. Mit jeder Konfiguration haben Benutzer Zugriff auf eine Reihe fortschrittlicher Algorithmen, die entwickelt wurden, um Genauigkeit und Auflösung für eine Vielzahl von Halbleiterbauelementparametern zu optimieren. RUDOLPH META PULSE 200 verfügt über eine hochauflösende Mikroskopie-Bildgebungseinheit, die eine detaillierte Auswertung von Minutenmerkmalen wie untere Asymmetrie, Klebepads, Übergänge, innere Hohlräume und Pinholes ermöglicht. Unter Berücksichtigung der Empfindlichkeit moderner Gerätearchitekturen verfügt MetaPulse 200 zudem über eine zuverlässige berührungslose Sondiermaschine zur zuverlässigen Signalerfassung. Durch den Einsatz der integrierten Datenverarbeitungstools erhalten Anwender schnell einen zuverlässigen Einblick in die Leistungsparameter ihrer Geräte. Das zusätzliche Wafer-Testmodul bietet auch genaue Messungen der Gerätesicherheit, Geschwindigkeit, Geräuschpegel und Energieeffizienz. Das Tool verwendet automatisierte Sondierungsmodule und einen fortschrittlichen Mustergenerator, der eine umfassende Prüfung auf Waferebene von Geräten in nominalen und parametrischen Einstellungen ermöglicht. Die Anlage verfügt über ein Ultrahochvakuum (UHV) für das Wafer-Handling, das wiederholbare und zuverlässige Testergebnisse mit minimaler Kontaktkraft ermöglicht. Für fortgeschrittenere Anwendungen bietet META PULSE 200 auch Scanspektralreflektometrie (SSR), um eine tiefgehende Spektralanalyse von Waferoberflächen durchzuführen. Benutzer können auch auf einen parametrischen Testmodus zugreifen, der ihnen hilft, Zuverlässigkeit und parametrische Fehler in ihren Geräten zu erkennen. Mit diesen integrierten Tools können Benutzer die Funktionsgrenzen ihrer Geräte genauer bestimmen. RUDOLPH MetaPulse 200 ist ein leistungsstarkes Wafer-Test- und Metrologiemodell, das eine Reihe von Fähigkeiten bietet, die die Präzisionsquantifizierung moderner Halbleiterbauelemente gewährleisten. Von der hochauflösenden Bildgebung bis zur berührungslosen Sondierung bietet das Gerät Anwendern die Möglichkeit, eine Vielzahl von Analysen schnell und zuverlässig durchzuführen, was es zu einem wertvollen Vorteil für jedes Wafer-Testlabor macht.