Gebraucht RUDOLPH MetaPulse 300 #9083733 zu verkaufen

ID: 9083733
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2009
Thickness measurement system, 8" 2009 vintage.
RUDOLPH MetaPulse 300 ist eine automatisierte Wafer-Prüf- und Messtechnik, die die Genauigkeit und Zuverlässigkeit von Prozessen in der Halbleiterindustrie verbessert. MetaPulse 300 verwendet hochpräzise optische, Scan- und elektrische Analysewerkzeuge, um Wafer-Leistungsmessgrößen zu messen. Sie unterstützt Betriebsfrequenzen bis 300MHz und integriert sich problemlos in bestehende Produktionslinien. Das System ist für hohen Durchsatz und hohe Zykluszeitgenauigkeit ausgelegt und gewährleistet präzise und genaue Testergebnisse. Das Gerät ist mit mehreren Mess- und Inspektionssubsystemen ausgestattet, darunter: optische Inspektion, Oberflächenrauhigkeit und Topographie, elektrische Eigenschaften des Wafers und eine 300MHz Fehlerinspektionsmaschine. Diese Subsysteme ermöglichen eine hochauflösende Analyse der parametrischen Variation und Fehlererkennung. Das uni-direktionale Scan-Tool ist mit einer externen Triggerelektronik ausgestattet, die den parallelen Ablauf mehrerer Programme ermöglicht. Das Asset bietet auch eine Reihe integrierter Lösungen zur Überwachung und Aufrechterhaltung der Datengenauigkeit. Dazu gehören: automatisierte Teststeuerung, Wafer-Umgebungskontrolle, Datenerfassung und -analyse, Echtzeitberichterstattung und Fehlermustererkennung. RUDOLPH MetaPulse 300 ist auch mit allen gängigen SPC-Softwarepaketen kompatibel und ermöglicht eine schnelle und einfache Integration in bestehende Produktionsprozesse. Das Modell ist zuverlässig und hocheffizient. Es entfällt die Notwendigkeit einer manuellen Analyse, die die Betriebseffizienz verbessert und den Durchsatz erhöht. Es gewährleistet auch die Wiederholbarkeit und Rückverfolgbarkeit von Wafer-Prüf- und Messtechnik-Prozessen und eignet sich somit für die Überwachung, das Benchmarking von Daten sowie für Anwendungen zur Qualitätskontrolle. Abschließend ist die automatisierte Wafer-Prüf- und Messtechnik MetaPulse 300 eine zuverlässige und effiziente Testlösung für die Halbleiterindustrie. Es bietet präzise Scan- und Messfunktionen und ermöglicht eine rationelle Integration in bestehende Produktionsprozesse. Das System verbessert die Betriebsproduktivität und sorgt für Wiederholbarkeit und Rückverfolgbarkeit der Daten.
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