Gebraucht RUDOLPH MetaPulse 300 #9229638 zu verkaufen

RUDOLPH MetaPulse 300 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die speziell für die Halbleiterherstellung entwickelt wurde. Das System ist in der Lage, eine Vielzahl von Halbleiterscheibengrößen von 2 Zoll bis 8 Zoll zu testen und bietet einen automatischen dreidimensionalen Scan der Waferoberfläche. Der zuerst von RUDOLPH Technologies entwickelte bildgebende Chip Acoustic Micro Imaging (AMI) ist im Inneren der Einheit ausgestattet, um eine hochauflösende Querschnittsbildgebung zu ermöglichen, die eine umfassende Analyse ermöglicht. Die Maschine hat die Fähigkeit, Hohlräume, Beulen, Risse, Beulen, Delamination und andere topologische Merkmale eines Wafers zu erkennen. MetaPulse 300 nutzt ein einzigartiges Vier-Achsen-Bewegungswerkzeug für präzises und effizientes Funktionieren. Die Kombination aus multidirektionaler, gleichzeitiger Bewegung des Wafers und der X-Y-Z-Operationspositionierung ermöglicht eine schnelle Bewegung entlang des gesamten Untersuchungsbereichs des Objekts. Darüber hinaus reduzieren die Geschwindigkeitsregelungsfunktionen des Modells abrupte Bewegungen, die möglicherweise zu Schäden an der Probe führen können. Darüber hinaus ist das Gerät mit einer variablen Laserstrahl-Punktgröße im Bereich von 200 bis 500 Mikrometer ausgestattet und wird von einer 940 nm Laserdiode angetrieben. Diese einstellbare Punktgröße ermöglicht eine genauere Steuerung und die Laserdiode bietet eine optimale Laserleistung. Zusätzlich dient ein elektro-optischer Generator zur momentanen vierkanaligen Signalerzeugung und dynamischen Verstärkungsregelung über den gesamten Frequenzbereich. Dieser Generator hat auch die Flexibilität, mehrere Kanäle für eine verbesserte Genauigkeit hinzuzufügen. Das System ist außerdem mit einem Gehäuse aus Edelstahl ausgestattet, um die Bedienersicherheit zu verbessern. Schließlich hat das Gerät ein ergonomisches Design, so dass es einfach zu bedienen. Die Maschine ist auch beständig gegen Stöße, Vibrationen und andere Umweltgefahren, die in der Waferproduktion üblich sind. Diese robuste Konstruktion gewährleistet eine zuverlässige und genaue Datenausgabe auch während langer Betriebszeiten. Insgesamt ist RUDOLPH MetaPulse 300 ein vielseitiges Wafer-Prüf- und Messtechnik-Tool, das eine Vielzahl von Aufgaben präzise bewältigen kann. Es ist mit allen notwendigen Funktionen und Funktionen ausgestattet, um den Messtechnik-Prozess genauer und zeiteffizienter zu machen. Mit seinen überlegenen Scanfunktionen, seiner robusten Konstruktion und seinem effizienten Design ist MetaPulse 300 die ideale Lösung für die Halbleiterherstellung.