Gebraucht RUDOLPH MetaPulse 300 #9365999 zu verkaufen

RUDOLPH MetaPulse 300 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Plattform, die für schnelle und präzise Wafermessungen vor und während des Halbleiterherstellungsprozesses entwickelt wurde. Das Gerät verfügt über eine Reihe fortschrittlicher Funktionen und Technologien, die es ermöglichen, die elektrischen Eigenschaften von Wafer-Dielektrika, Metallen und anderen Materialien genau zu messen und zu analysieren. Im Kern nutzt MetaPulse 300 drei Zeitbereichsreflektometriekanäle, um Materialeigenschaften zu messen und die Integrität des Wafers selbst zu testen. Das System kombiniert diese Kanäle mit fortschrittlicher Pulsweitenmodulationstechnologie, um Materialien bis 8400 MHz genau zu analysieren und zu messen. Darüber hinaus kann die Einheit eine Vielzahl von Parametern messen und identifizieren, einschließlich Widerstand, Kapazität, Impedanz und dielektrische Festigkeit von Materialien. Die Bedienelemente und die Benutzeroberfläche der Maschine sind benutzerfreundlich und leicht verständlich. Das große farbige Touchscreen-Display hilft Benutzern bei Tests und Messungen und liefert wertvolles Feedback in Form von Graphen, Testdaten und anderen Echtzeit-Visualisierungen. Darüber hinaus integriert sich das Tool schnell und nahtlos in bestehende Test- und Messtechnik-Geräte wie Stationskontrollsysteme und ermöglicht eine reibungslose und effiziente Automatisierung von Testaufbauten. RUDOLPH MetaPulse 300 unterstützt auch eine Reihe von Testbedingungen und Temperaturbereichen von -40 ° C bis 150 ° C, so dass es für Hochtemperaturanwendungen verwendet werden kann. Darüber hinaus erkennt und misst die Anlage einen weiten Bereich von Spannungspegeln und Frequenzen, bis zu 500 MHz, und verfügt über hervorragende Rauschreduzierungsfunktionen, so dass sie hochgenaue Tests unterstützen kann. Die Plattform verfügt zudem über eine robuste Testbettumgebung mit eingebetteten Qualitätssicherungsfunktionen, die wiederholbare und zuverlässige Ergebnisse garantieren. Insgesamt ist MetaPulse 300 ein fortschrittliches Wafer-Test- und Metrologiemodell, das einen starken Einblick in die elektrischen Eigenschaften von Halbleitermaterialien bietet. Mit seiner mehrkanaligen Reflektometrie und der unabhängigen Testplattform ist die Ausrüstung in der Lage, eine große Palette von Materialparametern genau zu messen, was sie zu einem unschätzbaren Werkzeug in jeder Produktionsumgebung macht.