Gebraucht RUDOLPH MetaPulse 300 #9401107 zu verkaufen

RUDOLPH MetaPulse 300 ist ein hochgenaues und zuverlässiges Wafer-Prüf- und Messsystem. Sie kann insbesondere zur Analyse und Messung der Qualität von Dünnschichtbeschichtungsschichten von Bauteilen in fortgeschrittenen mikroelektronischen Anwendungen wie optischen und photovoltaischen Geräten verwendet werden. MetaPulse 300 bietet hervorragende analytische Möglichkeiten sowohl für Dünnschichtschichten als auch für großflächige Substrate. Im Vergleich zu herkömmlichen zerstörerischen Prüfverfahren verwendet RUDOLPH MetaPulse 300 eine berührungslose, zerstörungsfreie optische Technik, um optische Eigenschaften mit hoher Genauigkeit und hoher Auflösung zu messen. Dadurch eignet es sich besonders gut zur Messung von Dünnschichtschichten auf Substraten sowie zur Erstellung von Karten kristalliner Orientierungen, Defekte und anderer Effekte. MetaPulse 300 kommt mit einem proprietären RUDOLPH 4D Paket, das eine umfassende messtechnische Lösung bietet. Dazu gehören ein integriertes hochauflösendes RGB-Lasersystem und High-End-Optik. Dadurch kann es sowohl optische Eigenschaften als auch Defekte an Wafern identifizieren und messen. Darüber hinaus kann es eine vollständige Charakterisierung der Substratoberfläche, wie kristalline Orientierungskarten und detaillierte Oberflächentopographiekarten, ermöglichen. RUDOLPH MetaPulse 300 kann auch zur Messung elektrischer Eigenschaften wie Widerstand und Kapazität auf Dünnschichtschichten verwendet werden. Dies kann ohne Beschädigung oder Beeinträchtigung der Probe in irgendeiner Weise erfolgen. Es enthält auch fortschrittliche Algorithmen zur Fehlererkennung und -messung, die bei der Erkennung und Diagnose von Anomalien helfen können. Darüber hinaus ist MetaPulse 300 hochgradig konfigurierbar und kann auf nahezu jede Anwendung zugeschnitten werden. Es ist für den Einsatz in Serienumgebungen konzipiert und verfügt über eine intuitive, benutzerfreundliche Oberfläche. Es ist auch für den Einsatz in anspruchsvollen Anwendungen wie Reinräumen und temperaturgesteuerten Kammern konzipiert, wo Stabilität und Genauigkeit wichtig sind. Insgesamt bietet RUDOLPH MetaPulse 300 eine umfassende, zerstörungsfreie, hochpräzise Wafer-Test- und Messtechnik-Lösung, die es zu einem wertvollen Werkzeug für die Messung der Eigenschaften aller Arten von Dünnschichtschichten und Substraten macht.