Gebraucht RUDOLPH MetaPulse-III 300XCu #293625425 zu verkaufen

Die RUDOLPTH RUDOLPH MetaPulse-III 300XCu Wafer-Prüf- und Messtechnik ist ein hochentwickeltes, automatisiertes Werkzeug, das bei der Charakterisierung und Inspektion von Halbleiterscheiben unterstützt. Es verfügt über eine große 300mm Wafer-Plattform, mit verbesserten Scanmöglichkeiten und hoher Genauigkeit Messgenauigkeit. Der einzigartige mehrstufige Ansatz bietet einen umfassenden Überblick über Waferparameter und -eigenschaften und analysiert alle relevanten Parameter wie Zusammensetzung, Kristallinität, Musterdichte und Oberflächenglätte. Das System misst zunächst elektrische Eigenschaften wie Widerstand und Spannung, bevor es eine detaillierte physikalische Analyse des Wafers durchführt. Danach kann das Werkzeug die Dicke, Ebenheit und andere Eigenschaften des Wafers bestimmen. Weitere Details, wie die Homogenität des Materials, können mit Hilfe der erweiterten Optik der Einheit ermittelt werden. Darüber hinaus kann die Technologie Bereiche des möglichen Auftretens von Defekten und sogar von Variationen der Materialeigenschaften identifizieren. Abtastgeschwindigkeiten von bis zu 8 Proben pro Scan sind erreichbar, was einen schnellen Prozess der Halbleiter-Wafer-Charakterisierung ermöglicht. Darüber hinaus ist RUDOLPH METAPULSE III 300XCU Maschine in der Lage, Wafer auf Submikron-Präzision mit einer minimalen Auflösung von 0,2 μ m zu messen. Das Werkzeug ist auch einfach zu bedienen. Eine grafische Benutzeroberfläche (GUI) ermöglicht es Benutzern, das Asset schnell und effizient zu steuern sowie die Ergebnisse des Modells zu überprüfen und zu analysieren. Mit dieser hochmodernen Technologie können Anwender auch zwischen verschiedenen automatisierten oder manuellen Analysetechniken wählen. Neben seiner Geschwindigkeit und Genauigkeit bietet die RUDOLPTH METAPULSE III 300 XCU auch hervorragende Konnektivität. Das Gerät ist kompatibel mit mehreren verschiedenen Softwareplattformen, so dass Datenexport und Vergleiche einfach und effektiv durchgeführt werden können. Das System ermöglicht auch die Fernbedienung, Überwachung und Steuerung des automatisierten Testprozesses. Die RUDOLPTH MetaPulse-III 300XCu Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit bietet ein umfassendes Merkmal, ideal zur Identifizierung und Charakterisierung von Halbleiterscheiben. Seine hochentwickelten und automatisierten Funktionen, kombiniert mit der Geschwindigkeit und Genauigkeit der Maschine, sorgen für überlegene Ergebnisse. Die benutzerfreundliche Benutzeroberfläche und die hervorragende Konnektivität des Tools bieten einen einfachen Zugriff auf zuverlässige Daten in kurzer Zeit.