Gebraucht RUDOLPH MetaPulse-III 300XCu #293633969 zu verkaufen
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ID: 293633969
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2013
Thickness measurement system, 12"
2013 vintage.
RUDOLPH MetaPulse-III 300XCu ist eine erstklassige Prüf- und Messtechnik für Wafer. Es dient als umfassendes Instrument zur Messung und Analyse kritischer Bauelementparameter, einschließlich Leitfähigkeit, Permittivität, elektrisches Feld und andere wichtige Eigenschaften von Halbleitern. RUDOLPH METAPULSE III 300XCU ist für maximale Vielseitigkeit ausgelegt, so dass Wafer unterschiedlicher Größe (3- bis 6-Zoll) ohne zusätzliche Ausrüstung oder Werkzeuge getestet werden können. Die fortschrittliche Rechenleistung ermöglicht eine genaue, konsistente Messung und Berichterstattung. Das System verfügt über zwei getrennte Kammern, so dass separate Operationen wie Anregung, Emission und Streuung in einer kontrollierten Umgebung durchgeführt werden können. Das Gerät verfügt zudem über eine einzigartige Inspektionsfunktion, mit der Anwender schnell und genau ein Spektrum kritischer Miniskülmerkmale auf jedem Wafer analysieren können, z. B. Unterschiede in der Topologie oder Materialzusammensetzung. Es kann bis zu sieben vollauflösende optische Mikroskope gleichzeitig betreiben und bietet eine hervorragende Sammeleffizienz der erfassten Daten. Das Herzstück von METAPULSE III 300 XCU ist eine Reihe von proprietären Detektoren, die für die bestmögliche Integration der gesammelten Daten ausgelegt sind. Dies ermöglicht genauere Ablesungen und eine genauere Charakterisierung der Halbleitermaterialien. Das Array bietet auch eine überlegene Genauigkeit in der Kristallographie und den gesamten Oberflächeneigenschaften der zu testenden Wafer. MetaPulse-III 300XCu Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine ist das perfekte Werkzeug zum Messen, Analysieren und Charakterisieren von Halbleiterscheiben. Es ist robust und zuverlässig und bietet beispiellose Genauigkeit, Effizienz und Flexibilität im Testbetrieb. Mit modernster Technologie, anpassbaren Optionen und integrierten Detektoren ist RUDOLPH METAPULSE III 300 XCU ideal für alle Anforderungen an Halbleiterprüfung und Messtechnik.
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