Gebraucht RUDOLPH Metapulse #9244787 zu verkaufen

RUDOLPH Metapulse ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, ideal für Halbleiterhersteller und Forschungsorganisationen, die nach einem effizienten Weg suchen, Waferproben zu testen und zu analysieren. Dieses System ist auf Genauigkeit ausgelegt, mit zuverlässigen messtechnischen Ergebnissen und über 6.000 erzielbaren Parameterwerten. RUDOLPH META PULSE verwendet berührungslose Rastermikroskopie (NSAM) und berührungslose strukturierte Lichtabbildungstechnologien, um genaue Ergebnisse mit hoher Auflösung zu liefern. Jede Einheit ist mit hochwertigen Sensoren und einer fortschrittlichen Lasermaschine ausgestattet, die automatisierte Wafertests und -messungen in einer Vielzahl von Wellenlängen ermöglicht. Die messtechnischen Werkzeuge sind darauf ausgelegt, eine breite Palette von Wafermaterialien einfach und schnell anzupassen und zu messen. Fortgeschrittene Algorithmen ermöglichen es dem Werkzeug, Waferoberflächenspannungen genau vorherzusagen und die Fehlertiefe zu berechnen, um die Messzeiten zu beschleunigen und präzisere Ergebnisse zu liefern. Darüber hinaus stellt Metapulse Nutzern eine Fülle von Daten zur Verfügung, die gesammelt und gespeichert werden, wenn das Asset funktioniert. Diese Daten können dann in einen Testbericht aufgenommen werden, so dass der Kunde leicht Informationen wie Wafer-Ebenheit, Wafer-Topographie sowie gescannte Bilder und andere physikalische Merkmale sehen kann. Darüber hinaus verfügt das Modell über eine intuitive Benutzeroberfläche, mit der Benutzer die Ausrüstung schnell einrichten und bedienen können. META PULSE bietet auch eine Reihe von Schnittstellenoptionen, sodass Benutzer die Waferbilder entweder online oder offline oder beides anzeigen können. Und mit mehreren unterstützten Sprachen kann RUDOLPH Metapulse in jeder Umgebung verwendet werden. Zusammenfassend ist RUDOLPH META PULSE ein Hochleistungs-Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das präzise Ergebnisse mit hoher Auflösung liefern kann. Es wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Wafermaterialien schnell und einfach zu analysieren und Herstellern und Forschungsorganisationen zu helfen, die genauesten und effizientesten Wafer-Testergebnisse zu erhalten.