Gebraucht RUDOLPH MP 200 #9238325 zu verkaufen

RUDOLPH MP 200 ist ein professionelles Wafer-Prüf- und Messsystem, das als wesentlicher Bestandteil jeder Halbleiterherstellungsanlage entwickelt wurde. Es wurde speziell entwickelt, um die Prüfung von Wafern auf kleine Neigungen und hohe Seitenverhältnisse zu erleichtern. Das System verfügt über ein branchenführendes, hochempfindliches optisches Profilometer, das mittels Weißlicht-Interferometrie die Oberfläche des Wafers abtastet. Dadurch werden Form und Kontur der KEs sowie ihre relative Position und Größe gemessen. Es wird auch verwendet, um mechanische und Oberflächenhomogenität auf mikroskopischer Ebene zu überprüfen. Der Ausgang des Sensors wird dann an ein leistungsstarkes und vielseitiges Softwarepaket gesendet, das mehrere fortschrittliche Algorithmen enthält, um Funktionen so klein wie 1 Nanometer automatisch zu identifizieren und zu messen. MP 200 enthält auch ein revolutionäres „Stand Alone“ -Streugerät, das zur Erfassung automatisierter grafischer Bilder auf der Oberfläche des Wafers und zur Messung ihrer Größe und Form konzipiert ist. Dieses Werkzeug kann zur detaillierteren Prüfung der Oberfläche des Wafers verwendet werden und ist besonders hilfreich bei der Inspektion von Merkmalen wie kleineren Flächengeräten oder hochauflösenden Mustern. Schließlich verfügt RUDOLPH MP 200 auch über ein vollautomatisches Multisensor-Prozessleitsystem, das alle Prozesse genau überwacht und kontrolliert, die die Qualität eines Wafers beeinflussen können. Dazu gehören Temperatur, Druck sowie Photonen- und Elektronenstrahlbelichtung während der Verarbeitung. Insgesamt ist MP 200 ein unschätzbares Werkzeug für jede Halbleiterherstellungsanlage und bietet ein beispielloses Maß an Genauigkeit und Rückverfolgbarkeit beim Testen und Messen von Wafern. Es ist sehr vielseitig in seiner Fähigkeit, grafische Bilder zu inspizieren, Funktionen so klein wie 1 Nanometer zu erkennen, und genau überwachen und steuern den Prozess während der Verarbeitung. RUDOLPH MP 200 ist mit seinen mehreren Sensoren und seinem leistungsstarken, aber benutzerfreundlichen Softwarepaket eine zuverlässige und effektive Lösung für Wafertests und Messtechnik.