Gebraucht RUDOLPH MP 300 #9098967 zu verkaufen

ID: 9098967
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2009
Thin film measurement system, 8" 2009 vintage.
RUDOLPH MP 300 ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für die hochmoderne Halbleiterherstellung entwickelt wurde. Es verwendet fortschrittliche industrielle Sensoren und Detektoren, um wichtige Fertigungsmerkmale und Eigenschaften von RUDOLPH MP300 Wafern zu identifizieren, wie Gesenkzusammensetzung, Waferausbeute, Gleichmäßigkeit und elektrische Eigenschaften. Mit einer selbstjustierenden Stufe und einem patentierten Mikron-Toleranz-Wafer-Positioniersystem kann die Maschine die Eigenschaften von bis zu 450 Wafern unterschiedlicher Größe genau und zuverlässig gleichzeitig messen und dokumentieren. MP-300 verwendet eine hochauflösende Kamera, um Waferbilder zusammen mit speziellen Beleuchtungstechniken zu erfassen und zu analysieren, um die Oberfläche und Laminierung jedes einzelnen Wafers zu messen. Ein Bordcomputerprogramm ermöglicht es dem Gerät, die Werkzeug- und Drahtmuster jedes Wafers zu messen und zu vergleichen sowie Temperatur und andere Umgebungsfaktoren zu messen. Zusätzlich kann die Maschine die genauen elektrischen Eigenschaften jedes Wafers analysieren, um seine Eignung für den Einsatz in Mikroprozessor-, Speicher- und Logikschaltungen zu ermitteln. Seine fortschrittlichen Algorithmen identifizieren auch mögliche Defekte auf dem Wafer und können helfen, übermäßige Feuchtigkeitsbedingungen zu erkennen. MP300 umfasst auch einen ausgeklügelten Steuerungsmotor, der automatisierte Wafertests, Messsammlung und -analyse sowie die Erstellung von Berichten ermöglicht. Das Werkzeug kann so programmiert werden, dass mehrere Tests gleichzeitig auf einem großen Array von Wafern durchgeführt werden, was eine schnelle und genaue Analyse einer großen Anzahl von Tests ermöglicht. Zusätzlich kann jede RUDOLPH- MP-300 mit anderen Systemen, wie Öfen und Datagrammsystemen, integriert werden, was eine Remote-Datenerfassung und -Berichterstattung ermöglicht. MP 300 ist die ideale Maschine zum Messen, Testen und Dokumentieren der Eigenschaften von Wafern in der hart umkämpften Halbleiterindustrie. Seine ausgeklügelten Sensoren, Detektoren und fortschrittlichen Algorithmen ermöglichen eine umfassende und genaue Charakterisierung einer Vielzahl von Fertigungsmerkmalen und machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug für die Prozesssteuerung und -analyse. Seine zuverlässige und wiederholbare Leistung macht es zu einer ausgezeichneten Wahl für eine gesicherte Halbleiterherstellung.
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