Gebraucht RUDOLPH MP 300 #9235812 zu verkaufen

RUDOLPH MP 300 ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um präzise Messungen der elektrischen, physikalischen und optischen Eigenschaften für fortgeschrittene Halbleiterbauelemente bereitzustellen. Seine erweiterten messtechnischen Fähigkeiten ermöglichen eine Auflösung auf Nanometerebene, was es ideal für Messgeräte auf modernen Halbleiterbauelementen macht. Das System bietet bis zu 32-Bit-Datenauflösung für mehr Präzision und bietet eine breite Palette von Optionen für die Anpassung der Wafermesseinrichtung. Die Wafer-Testfunktionen von RUDOLPH MP300 sind sehr robust und präzise. Es kann Parameter wie Leitfähigkeit, Dielektrizitätskonstante, Widerstand, Kapazität und mehr messen. Es kann auch Parameter wie kapazitive Kopplung, Durchbruchspannung, Fokusvariation, aktive Flächenform, Leckstrom und vieles mehr messen. Die optischen Testfunktionen des Geräts umfassen Schmalpolarisationssteuerung, Mehrfarbentests, reflektierende optische Messung, Analyse mehrerer spektraler Eigenschaften und mehr. MP-300 bietet auch erweiterte Kalibrier- und Schnittstellenfunktionen, um präzise Wafermessungen zu gewährleisten. Es verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche und eine umfassende parametrische Einrichtung. Die Maschine unterstützt offene Kommunikationsprotokolle, sodass sie in andere Systeme oder Maschinen integriert werden kann. Darüber hinaus kann es mehrere Eingabeformate akzeptieren und für die Integration mit werkseitigen Automatisierungssystemen konfiguriert werden. Für Komfort und Flexibilität bietet das Tool eine modulare Struktur, die es Anwendern ermöglicht, den Testaufbau an ihre individuellen Anforderungen anzupassen. Seine ausgeklügelte Software-Anwendung ermöglicht es Benutzern, ihre Tests schnell zu konfigurieren und zu optimieren. Diese Software speichert auch historische Daten und führt zu einem sicheren, nachvollziehbaren Format. MP 300 ist ein ideales Werkzeug für erweiterte Wafertests und Messtechnik. Es kann eine breite Palette von Messungen und Testkonfigurationen verarbeiten, und seine modulare Struktur sorgt für maximale Anpassung und Skalierbarkeit. Seine erweiterten Kalibrier- und Schnittstellenfunktionen machen es zu einem äußerst zuverlässigen Kapital für die Messung präziser und genauer Waferdaten.