Gebraucht RUDOLPH MP 300 #9257356 zu verkaufen

RUDOLPH MP 300 Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine automatisierte, leistungsstarke Mehrzwecklösung für die Prüfung und Messtechnik moderner Halbleiterscheiben. Das System bietet eine breite Palette von Möglichkeiten, einschließlich, aber nicht beschränkt auf berührungslose optische Reichweite, Oberflächentopographie, elektrische Sondierung und Fehlerinspektion. RUDOLPH MP300 bietet ein hochgenaues optisches Interferometer für die 3D-mikroskopische Bildgebung in der Produktions-Wafer-Prüfung. Dieses Interferometer besteht aus mehreren Lasern, die verwendet werden, um die Höhe und Tiefe der Wafer-Merkmale zu messen, einschließlich Beulen, Gräben und andere tiefe Merkmale. Die Messgenauigkeit des Interferometers beträgt 10nm und der Vergrößerungsbereich beträgt 5x bis 20.000x. MP-300 ist mit einer Vielzahl von hochauflösenden CCD-Kameras und verschiedener optischer Hardware für präzise 2D-Bildgebung und Fehlerinspektion ausgestattet. Dieses Gerät bietet dem Anwender durch seine berührungslose Messtechnik auch schnelle elektrische Sondierungsmöglichkeiten. Es ist in der Lage, Spurwiderstände mit einer Genauigkeit von 1ms zu messen und Vorwärts-/Rückwärtsstrom auf ICs mit einer Genauigkeit von 2ms aufzuzeichnen. MP300 bietet auch eine breite Palette von messtechnischen Lösungen, einschließlich Oberflächentopographiemessungen, Dimensionsanalysen und Foliendickenmessungen. Es verwendet eine hochauflösende CCD-Kamera für die Bildgebung und einen Nanometer-Auflösungslaser für Dimensionsmessungen. Die Maschine ist sehr zuverlässig und produziert hochgenaue, Vollfeld-Topographiemessungen mit einer Genauigkeit von 0,7 nm. MP 300 bietet dem Benutzer zudem eine intuitive Benutzeroberfläche zur Steuerung und Analyse des Werkzeugs. Der Benutzer kann aus einer Vielzahl von Einstellungen, Testmodi und Messtechniken wählen, und das Asset passt die Einstellungen an die Anforderungen des Benutzers an. Dieses benutzerfreundliche Modell ermöglicht eine schnelle und effiziente Test- und Messtechnik. RUDOLPH MP-300 Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine fortschrittliche und äußerst zuverlässige Lösung für die Prüfung und Messtechnik der heutigen anspruchsvollen Halbleiterscheiben. Mit seinem umfassenden Leistungsspektrum und seiner Genauigkeit ist das RUDOLPH MP 300 System ideal für schnelle und effiziente Wafertests und Messtechnik in der Produktion.