Gebraucht RUDOLPH MP 300 #9388218 zu verkaufen

ID: 9388218
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2005
System, 12" 2005 vintage.
RUDOLPH MP 300 ist eine professionell automatisierte Prüf- und Messtechnik für Wafer, ideal für Fertigungsanlagen und Forschungs- und Entwicklungslabore (F&E). Es verfügt über die Fähigkeit, die Oberflächentopographieeigenschaften, Abmessungen und elektrischen Eigenschaften von Wafern zu messen. Es ist in eine patentierte Messtechnik integriert, die für die Prüfung der anspruchsvollsten Folien und Beschichtungen in der Halbleitergeräteindustrie optimiert ist. Diese Technologie umfasst Konturabtastung, Spannungskontrast-Bildgebung (VCI) und Neigungsmessungen, die qualitativ hochwertige Messungen liefern, die internationalen Standards entsprechen. Darüber hinaus verfügt das System über Funktionen wie optische Messtechnik, die Echtzeit-In-Situ-Daten liefert, und eine tiefgreifende Fehlercharakterisierung der Wafer. Es scannt Wafer bis zu 8in mit einer Genauigkeit von 1,5 Nanometern. Die Einheit kann konfiguriert werden, um eine Vielzahl von messtechnischen Aufgaben wie Überwachung Abscheidungsprozesse, Fehleranalyse, Kantenmessungen, berührungslose Widerstandsmessung und niedrige oder hohe k dielektrische Schichtdicke Messung durchzuführen. Die intuitive grafische Benutzeroberfläche (GUI) ermöglicht es Benutzern, Experimente schnell zu starten, zu steuern und zu überwachen und verschiedene messtechnische Aufgaben einfach einzurichten. Es gibt eine Vielzahl von Funktionen in dieser Maschine enthalten, wie automatische Werkzeugunterstützung, Kamerasteuerung, Datenspeicherung und automatische Netze, die Bediener ermöglichen, Ergebnisse schnell und genau zu erhalten. RUDOLPH MP300 verwendet auch eine einzigartige optische Bildgebungstechnologie, die eine ausgezeichnete Messgenauigkeit und Fehlerauflösung garantiert. Das Asset-Design basiert auf einer offenen Architektur, die die Integration in bestehende Systeme vereinfacht. Seine Modularität ermöglicht es dem Benutzer, aus verschiedenen Modulen zu wählen, um individuelle Messanforderungen zu erfüllen. Um maximale Effizienz zu gewährleisten, verfügt das Modell über eine Hochtreue-Messausrüstung. Es umfasst die fortschrittlichsten Technologien der Branche, einschließlich aktiver Rückkopplungssteuerung, Wellenscanner und anderer Hochgeschwindigkeitsmethoden. Dies hilft, einheitliche und genaue Ergebnisse zu gewährleisten. Das System verbessert auch den Workflow und die Kostensenkung, indem es den manuellen Eingriff reduziert und die Kalibrierung der Benutzer überflüssig wird. MP-300 liefert zuverlässige und genaue Testergebnisse, was zu einer verbesserten Prozesskontrolle führt. Es liefert dem Anwender umfassende Berichte über die Oberflächeneigenschaften oder Defekte des Wafers. Die Einheit wird auch durch einen vertrauenswürdigen Ruf für qualitativ hochwertige Messergebnisse unterstützt, die alle wichtigen Branchenzertifizierungen erfüllen.
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