Gebraucht RUDOLPH MP1-300 #293630203 zu verkaufen

RUDOLPH MP1-300 ist ein modernes Wafer-Prüf- und Messsystem, das speziell für die Halbleiterindustrie entwickelt wurde. Es bietet umfassende Waferanalyse-, Inspektions-, Test- und Charakterisierungsfunktionen in einer einzigen Plattform. MP1-300 ist eine automatisierte Lösung für Messtechnik und Wafermessung. Es verwendet zerstörungsfreie Techniken, um die optischen, elektrischen, mechanischen und elektrischen Eigenschaften eines Wafers zu messen, wodurch Hersteller ein höheres Maß an Qualitätskontrolle und -sicherung erreichen können. Das System ist mit einem dedizierten digitalen Rastermikroskop ausgestattet, das eine genaue und schnelle Auswertung der Oberfläche des Wafers ermöglicht. Das Mikroskop liefert in Echtzeit hochauflösende Bilder der gesamten Waferoberfläche, die eine problemlose Fehleranalyse und Identifizierung ermöglichen. RUDOLPH MP1-300 ist zudem mit einer motorisierten Sondenstation ausgestattet, die die Messung elektrischer Eigenschaften ermöglicht. Dazu gehören Widerstand, Kapazität, Induktivität und Widerstand. Darüber hinaus verfügt das System über eine fokusabstimmbare Linse, die die Messung optischer Eigenschaften wie Reflektivität und Beugung ermöglicht. Eines der Hauptmerkmale von MP1-300 ist seine dedizierte Software, die umfassende Datenanalyse- und Managementfunktionen bietet. Es verfügt über eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche (GUI), die die Manipulation und Anzeige von Daten in einer Vielzahl von Formaten ermöglicht. Die Software ermöglicht auch automatisierte Berechnungen, einschließlich zeitabhängiger Daten wie mittlere quadratische Rauheit und Oberfläche, wodurch eine vollständige Waferprofilmessung schnell und genau durchgeführt werden kann. RUDOLPH MP1-300 umfasst auch eine Reihe von zusätzlichen Funktionen und Funktionen, darunter eine hochempfindliche Autofokus-Funktion, erweiterte Lichtquellensteuerung, programmierbare Messparameter und einen integrierten Kalibrierungsprozess. All diese Eigenschaften ermöglichen die genaue und zuverlässige Analyse einer Vielzahl von Wafern, so dass MP1-300 das ideale Werkzeug für die Gewährleistung der höchsten Qualitätskontrolle und Messgenauigkeit.