Gebraucht RUDOLPH MP1-300 #9262045 zu verkaufen

RUDOLPH MP1-300 Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine vollautomatische Testlösung, die Wafer jeder Größe und Form schnell und genau messen kann. Das System wurde entwickelt, um die effiziente und genaue Charakterisierung von Wafern für eine breite Palette von Anwendungen zu erleichtern, mit Automatisierung, die erhebliche Zeiteinsparungen und eine erhöhte Genauigkeit ermöglicht. MP1-300 ist modular aufgebaut und ermöglicht individuelle Konfigurationen, die auf bestimmte Anwendungen zugeschnitten sind. Die Modularität der Einheit ermöglicht es Benutzern, Komponenten hinzuzufügen, zu entfernen oder neu zu konfigurieren, um die Flexibilität zu erhöhen. Die Modularität ermöglicht es den Anwendern auch, geringere Anschaffungskosten sowie geringere Wartungskosten zu nutzen, indem sie Komponenten nur nach Bedarf hinzufügen können. Im Zentrum von RUDOLPH MP1-300 steht ein leistungsstarkes optisches Rastermikroskop (SOM). Dadurch kann der Wafer gescannt und Messungen in variabler Tiefe und Auflösung durchgeführt werden. Die gesamte Maschine eignet sich gut zur Analyse einer Vielzahl von Wafertypen und -strukturen, einschließlich vergrabener Waferschichten, Strukturen mit hohem Seitenverhältnis und gemusterten Oberflächen. Das Tool ist eng mit der neu entwickelten Software RUDOLPH integriert, die das Asset für die vollständige Datenerfassung und -analyse automatisiert. So können Benutzer Wafer schnell und präzise messen und Datenanalysen an ihren Daten durchführen. Die Software berücksichtigt auch Schwankungen bei Umgebungstemperatur, Luftfeuchtigkeit und Druck bei der Erkennung von Defekten, was eine verbesserte Erkennungsrate ermöglicht. MP1-300 ist zugänglich und benutzerfreundlich, mit einer grafischen Benutzeroberfläche (GUI), die Benutzer durch den Einrichtungs- und Kalibrierungsprozess führt. Die GUI bietet auch Zugriff auf Funktionen wie Datenerfassung, mehrere Konfigurationen, automatische Optimierung der Bildgröße und Bildrate, erweiterte Fehlerprüfung und Berichterstattung und vieles mehr. Insgesamt ist RUDOLPH MP1-300 Wafer Testing and Metrology Model eine leistungsstarke und vielseitige automatisierte Testlösung für die Wafer-Charakterisierung. Das hochmodulare Design ermöglicht einfache individuelle Konfigurationen, während die integrierte Software eine einfache Einrichtung und Datenanalyse ermöglicht. Das System eignet sich hervorragend zur Analyse einer Vielzahl von Wafertypen und -strukturen und bietet im Vergleich zu manuellen Tests erhebliche Zeit- und Kosteneinsparungen.