Gebraucht RUDOLPH MP1-300 #9311177 zu verkaufen

RUDOLPH MP1-300
ID: 9311177
Weinlese: 2007
Film thickness measurement system Process: Metro 2007 vintage.
RUDOLPH MP1-300 Wafer Testing and Metrology Equipment bietet vollautomatische und Hochdurchsatz-Wafer-Tests und Messtechnik. Dieses System ist eine integrierte Lösung für die Implementierung von gerätebasierten elektrischen metrischen Messungen, elektrischen Tests sowie bildgebenden und optischen Inspektionen. MP1-300 ist so konzipiert, dass sie strenge Produktionsanforderungen für die Bewertung und Charakterisierung auf Waferebene erfüllt. Es hilft, Produktionszeiten zu reduzieren, Kosten zu senken und die Qualitätskontrolle zu verbessern. Das Gerät unterstützt Wafergrößen von 2 Zoll bis 8 Zoll und deckt sowohl ungemusterte Wafer als auch gemusterte Wafer-Tests und Messungen ab. RUDOLPH MP1-300 ist mit fortschrittlichen Techniken ausgestattet, um elektrische Parameter von verschiedenen Arten von Transistoren und elektrischen Geräten zu messen. Es kombiniert hochauflösende Gleichstrom- und niederfrequente Wechselstrommessungen mit Sondierung auf mehreren Stromstufen, um elektronische Komponenten zu identifizieren und zu charakterisieren. Die Maschine misst Spannung, Strom, Zeit, Leistung und andere Geräte-Level-Metriken mit Präzision. MP1-300 bietet eine integrierte optische Inspektionsmöglichkeit, die CCD-Kameras verwendet, um hochauflösende Bilder des Wafers zu erfassen. Es wurde entwickelt, um Fehler zu erkennen, einschließlich Ätz-, Verschmutzungs-, Feuchtigkeits-, Partikel- und andere häufige Defekte, die Prozeßprobleme verursachen. RUDOLPH MP1-300 wird durch einfach zu bedienende Software-Tools unterstützt, die die Einrichtung und Verwaltung von Wafertests erleichtern. Das Tool bietet auch integrierte Datenanalyse und Reporting-Tools, um detaillierte Testergebnisse zu erfassen und Berichte für weitere Analysen zu erstellen. MP1-300 ist mit einem hohen Maß an Flexibilität ausgelegt und kann sich schnell an Änderungen in der Wafer-Konstruktion anpassen, ohne die Prüfgenauigkeit zu beeinträchtigen. Es ist ideal für die Integration in eine breite Palette von Produktionslinien und Testsystemen in der Halbleiterindustrie. RUDOLPH MP1-300 ist mit seiner schnellen Datenerfassung und dem schnellen Durchsatz eine zuverlässige und kostengünstige Lösung für Wafertest- und messtechnische Anwendungen.
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