Gebraucht RUDOLPH MP1-300 #9401099 zu verkaufen

ID: 9401099
Film thickness measurement system.
RUDOLPH MP1-300 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die die höchste Auflösung der Feinmerkmalsanalyse bietet. Dieses fortschrittliche System nutzt eine Mikropositionierungsstufe, ein hochauflösendes optisches Mikroskop und eine Reihe integrierter Messoptionen zur Messung kleiner Merkmale auf Wafersubstraten. MP1-300 verfügt über eine flexible Mikropositionierungsstufe mit bis zu 15 Metern Hubbereich, Submikron-Bühnenauflösung und integriertem XYZ-motorisierten Scantisch. Diese genaue Stufenpositioniereinheit ermöglicht eine exakte Platzierung der einzelnen Bereiche der Probe unter dem Mikroskop und ermöglicht präzise Messungen mit garantierter Wiederholbarkeit. RUDOLPH MP1-300 bietet auch ein hochauflösendes optisches Mikroskop mit Submikron-Auflösung. Dieses fortschrittliche Mikroskop ermöglicht schnelle und präzise Messungen von Mikrostrukturen auf Wafersubstraten. Darüber hinaus bietet die digitale Bildautomatisierung innerhalb von MP1-300 Zugriff auf eine Vielzahl von Messoptionen mit digitalen Szenenanalyse-Algorithmen. Diese Algorithmen ermöglichen eine automatisierte Analyse von Wafermustern, Prozessdefekten und anderen Mikrostrukturen bei kontinuierlicher Überwachung verschiedener Schichten des Probensubstrats. Darüber hinaus ist RUDOLPH MP1-300 mit Hochgeschwindigkeitsdatenerfassung, grafischer Benutzeroberfläche und Messreihenfolge ausgestattet. Die Datenerfassung dient der Erfassung von abgetasteten Daten aus dem optischen Mikroskop, so dass Benutzer Messungen und Trends schnell überprüfen können. Darüber hinaus bietet die grafische Benutzeroberfläche eine intuitive Benutzererfahrung zur schnellen Navigation durch die Funktionen. Die Sequenzierung der Messungen ermöglicht es der Maschine, sich automatisch von Probenbereich zu Probenbereich zu bewegen, was die Geschwindigkeit und Genauigkeit der Messungen erhöht. Insgesamt ist MP1-300 das perfekte Werkzeug für Wafertests und messtechnische Anforderungen. Es bietet hervorragende Messfähigkeiten und liefert Präzision, Genauigkeit und Wiederholbarkeit für eine Vielzahl von Messungen. Darüber hinaus ist das Asset dank seiner schnellen Datenerfassung ideal für die Analyse komplexer Funktionssätze in Forschungs- und Produktionsanwendungen.
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