Gebraucht RUDOLPH MP1-300XCU #293585585 zu verkaufen

RUDOLPH MP1-300XCU ist eine führende Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung der Halbleiter- und Mikroelektronikindustrie. Es bietet eine schnelle und genaue Messung kritischer Parameter von Wafersubstraten wie Spannung, elektrische Eigenschaften und Bildqualität. MP1-300XCU nutzt die berührungslose, zerstörungsfreie 3D-Abbildung der Waferoberfläche, um Oberflächengeometrie und Topographie genau zu messen. Diese Daten dienen zur Identifizierung und Beseitigung von Ungleichmäßigkeiten und Anomalien, die durch epitaktische Abscheidung, Reinigung und Einführung von Defekten verursacht werden. Dieses System verfügt auch über eine fortschrittliche Lichtquelle mit niedriger Leistung Submikron-Auflösung zur genauen und zuverlässigen Messung der Waferoberflächeneigenschaften. Das Gerät ist für eine Vielzahl von Wafergrößenbereichen ausgelegt. Seine robuste optische Maschine ermöglicht es dem Anwender, eine breite Palette von Waferdicken von weniger als 100 Nanometer (nm) bis mehr als 5 Millimeter (mm) zu messen. Dank seiner leistungsstarken Datenerfassungs- und Automatisierungsfunktionen können mehrere Wafer in einer Sitzung gemessen werden. Dies minimiert die Werkzeugauslastung und spart Zeit bei Präzision und Genauigkeit. RUDOLPH MP1-300XCU verfügt zudem über ein umfassendes Analyse-Softwarepaket, das eine detaillierte statistische Analyse der gesammelten Daten ermöglicht. Auf diese Weise können Anwender Bereiche mit Ungleichmäßigkeit oder anderen Auffälligkeiten schnell und einfach identifizieren und ihre Produktionsprozesse feinjustieren, um den Ertrag zu verbessern und die Produktqualität zu verbessern. Das Tool ist auch sehr anpassbar, so dass Benutzer das Asset an ihre spezifischen Bedürfnisse und Vorlieben anpassen können. Zum Beispiel verfügt das Instrument über eine Auswahl an optischen Objektiven, mit denen Benutzer das Sichtfeld, die Auflösung und die Fokussiergenauigkeit der Kamera anpassen können. MP1-300XCU ist eine branchenführende Lösung für Wafertests und Messtechnik. Es bietet überlegene Genauigkeit, Geschwindigkeit und Zuverlässigkeit für die Messung von Oberflächeneigenschaften und ist damit eine ideale Lösung für Halbleiter- und Mikroelektronikhersteller und verwandte Industrien.