Gebraucht RUDOLPH MPIIIA 300 #9411954 zu verkaufen

RUDOLPH MPIIIA 300 ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik, die von RUDOLPH Technologies entwickelt wurde. Dieses System ist speziell für die optische Inspektion und elektrische Prüfung von Halbleiterscheiben ausgelegt. MPIIIA 300 ist die neueste Version in RUDOLPH Hochleistungsprüfung und Messtechnik Produktlinie. Es erleichtert die effiziente, genaue und kostengünstige Handhabung von Wafer-Fertigungsprozessen. Das Gerät ermöglicht sowohl die frontseitige als auch die rückseitige Messtechnik sowie die Fehlerinspektion, ohne dass Hardwareteile geändert werden müssen. RUDOLPH MPIIIA 300 ist mit fortschrittlichen Technologien ausgestattet, um eine zuverlässige Fehlererkennung und genaue Messungen zu ermöglichen. Zum Beispiel verfügt es über eine proprietäre zerstörungsfreie OCD-Detektionstechnik (Optical Critical Dimension Measurement) zur schnellen, genauen und zerstörungsfreien lateralen Dimensionsmessung. Darüber hinaus verwendet die Maschine eine patentierte 4D-Inspektionstechnik, um enge Linienbreiten bis auf 60 Nanometer mit hoher Genauigkeit zu identifizieren. MPIIIA 300 verfügt darüber hinaus über eine robuste Bildbibliothek mit einem adaptiven Lernalgorithmus, um Bilder der Muster mit hoher Genauigkeit zu erfassen. Es verfügt über ein erweitertes Bildgebungswerkzeug mit einem großen Sichtfeld für Messungen über den gesamten Wafer. Darüber hinaus ist die Anlage in der Lage, 2D-Bildgebung im ultravioletten Bereich und kann Oberflächenmesstechnik auf der Waferoberfläche durchführen. RUDOLPH MPIIIA 300 ist hochgradig anpassbar und könnte mit einer Reihe von Software-Optionen und Zubehör ausgestattet werden. All diese Funktionen steigern die Gesamtleistung für jede Anwendung. Darüber hinaus bietet RUDOLPH Technologies vollständige Kalibrierbarkeit, Kundenservice und Kundenservice, um die Kundenzufriedenheit zu garantieren. Insgesamt ist MPIIIA 300 ein fortschrittliches, kostengünstiges Wafertest- und Metrologiemodell, das die Zuverlässigkeit und Genauigkeit von Halbleitertest- und Metrologieprozessen optimiert. Seine fortschrittlichen Technologien und Flexibilität bieten eine Reihe von Vorteilen für Kunden in der Halbleiterindustrie.