Gebraucht RUDOLPH / ONTO INNOVATION MP3-300XCU #9375220 zu verkaufen

RUDOLPH/ONTO INNOVATION MP3-300XCU ist eine spezialisierte Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um die Oberfläche und Dicke von Halbleiterscheiben genau zu charakterisieren. Es ist ein laserbasiertes Messsystem mit fortschrittlicher Optik und 10-Nanometer-Auflösung, das präzise, berührungslose Messungen bis zur Nanometerskala ermöglicht. RUDOLPH MP3-300XCU ist mit einem proprietären 3D-Metrologie-Algorithmus ausgestattet, der kartenartige Bilder der Oberfläche eines Wafers liefert. Sein automatisiertes Scanverfahren umfasst eine Mehrpositions-XY-Scanstufe zur Abdeckung der gesamten Waferoberfläche und eine z-Achsen-Stufe zur Erfassung von Mikrorauhigkeit und Waferdicke. Die laserbasierte Technologie des Geräts bietet ihm einzigartige Vorteile wie die Erfassung feiner Oberflächenmerkmale, die genaue Messung ithlinearer Merkmale, die Messung mehrstufiger Schritthöhen und die Durchführung von Höhenprofilmessungen von Submikron-Merkmalen. Die Software von ONTO INNOVATION MP3-300XCU ist sowohl benutzerfreundlich als auch anspruchsvoll und ermöglicht Anwendern den einfachen Zugriff auf eine Vielzahl von Analyse- und Berichtsoptionen. Die intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht es Benutzern, ihre Messparameter anpassbar zu konfigurieren, auf eine Bibliothek gespeicherter Bildschirmbilder zum Vergleich oder zur Analyse zuzugreifen und ihre Einstellungen anhand der Rückmeldungen aus den Echtzeit-Messtechnik-Messungen fliegend schnell zu ändern. Mit einer integrierten Tracking-Maschine können Anwender messtechnische Verarbeitungsaktivitäten in Echtzeit einfach überwachen. Die Nutzung von MP3-300XCU führt zu zahlreichen Vorteilen. Das Tool bietet einen kostengünstigeren und weniger zeitaufwendigen Ansatz zur Charakterisierung von Wafern, und der berührungslose Ansatz beseitigt das Risiko von Beschädigungen empfindlicher Waferoberflächen. Die fortschrittliche Messtechnik erleichtert zudem eine verbesserte Produktqualität durch Fangen und Analysieren subtiler Unterschiede in den Wafern, wodurch Ertrag und Leistung verbessert werden. RUDOLPH/ONTO INNOVATION MP3-300XCU ist mit seinen hochwertigen 3D-Laser-Messtechnik-Fähigkeiten ein idealer Vorteil für die genaue Messung von Halbleiterscheiben. Seine überlegene optische Auflösung, benutzerfreundliche Software und umfassende Tracking-Funktionen machen es zum optimalen Werkzeug für umfassende Wafertests und Messtechnik.