Gebraucht RUDOLPH S3000 #9389592 zu verkaufen

RUDOLPH S3000
ID: 9389592
Thickness measurement system EFEM.
RUDOLPH S3000 Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine hochwertige automatisierte Lösung für Test- und Messtechnik-Anwendungen in der Halbleiter- und Optoelektronik. S3000 System bietet eine Plattform mit einer nahtlosen Integration von Software und Hardware für schnelle und genaue Tests, Messtechnik und Analyse. Die Software ist in der Lage, Daten für Inline- und automatisierte Produktionstests und messtechnische Anwendungen mit höchsten Durchsätzen zu verwalten, zu analysieren und zu präsentieren. RUDOLPH S3000 Einheit verfügt über eine mehrachsige, hohe Durchsatz Sondiermaschine. Das Werkzeug kann angepasst werden, um eine Vielzahl von Wafer Sonden Anwendungen einschließlich Sondierung elektrostatische Entladung (ESD), elektrische Messungen, Mikro-Stress-Engineering, Spannungsprüfung und Sondierung Messungen auf Halbleiterscheiben. Das Asset verfügt zudem über eine einfach zu konfigurierende, vollständig integrierte Software-Anwendung, mit der Anwender Messprotokolle schnell programmieren können. S3000 Modell ist mit einem Schweizer Präzisionslinearantrieb gekoppelt, der eine genaue, geräuscharme und schwingungsarme Sondierungsbewegung in der X-, Y- und Z-Achse ermöglicht. Dies bietet eine bessere Sondierungsgenauigkeit und Wiederholbarkeit. Das Gerät verfügt außerdem über einen 3-achsigen Tastkopf mit höherer Auflösung, der für hochpräzise Messungen ausgelegt ist. Der positionsgesteuerte Linearantrieb ermöglicht es dem System, den Wafer mit genau definierten Abstandsschritten unter jedem Winkel und jeder Orientierung zu durchqueren, während der optische Encoder eine genaue berührungslose Abtastung über die Waferoberfläche gewährleistet. Das Gerät ist mit fortschrittlichen Bildgebungs-, Mess- und Analysewerkzeugen für die Querschnittsmessung von Wafern auf einer Vielzahl von Substratmaterialien ausgestattet. Es verfügt über eine umfangreiche Bibliothek für Messtechnik und Analysealgorithmen zur Abbildung, Inspektion, Bildgebung und Kalibrierung von Prozessen und Produktgeometrie auf allen Arten von Halbleiterscheiben. RUDOLPH S3000 Maschine unterstützt sowohl Standard- als auch kundenspezifische Tastkarten und Module sowie Wafer-Adapter und Flachbettzellen. Es ist auch einfach in andere führende Desktop-Messtechnik-Systeme wie den Carl Zeiss MMS 5500 integrierbar. Dies gewährleistet eine schnelle Implementierung und eine nahtlose Ausrichtung der Daten. S3000 Tool ist sehr anpassbar, mit einer Reihe von Software- und Hardwarekomponenten, die ausgewählt werden können, um die Anforderungen einer Reihe von verschiedenen Projekten zu erfüllen. Diese Flexibilität macht RUDOLPH S3000 ideal für eine Vielzahl von Anwendungen, wie die Prüfung von Wafern auf elektrische Eigenschaften, Spannung und andere Eigenschaften, messtechnische Analyse und Überwachung von Produktionsprozessen.
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