Gebraucht RUDOLPH WS 2500 #9241213 zu verkaufen

RUDOLPH WS 2500 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein bildbasiertes, automatisiertes optisches Inspektions- und Analysesystem, das zum Testen und Analysieren von Halbleiterscheiben mit mittleren Submikronen entwickelt wurde. Die Einheit verwendet fortschrittliche Optik, um Waferoberflächen, Defekte und andere Eigenschaften wie Rauheit, Oberflächentopologie, Durchschlagspunkte, Korngröße, Halbleiterwiderstand, Gleichmäßigkeit und mehr genau zu messen. WS 2500 ist eine hochautomatisierte Maschine, und der Inspektionsprozess kann mit vordefinierten Parametern und automatisiertem Reporting eingerichtet werden. Die Inspektion soll Ausfallzeiten minimieren und manuelle Tests und Analysen eliminieren. Es verfügt über schnelle, genaue Analyse, bis zu 50 mal schneller als manuelle Analyse. RUDOLPH WS 2500 umfasst präzise Optik und Sensoren, die Anwendern eine saubere und genaue Bildgebung bieten, sowie eine benutzerfreundliche Oberfläche für Einrichtung und Betrieb. Das Werkzeug hat eine 590nm Laserdiode, die Waferdicke genau messen kann, und eine 660nm Laserdiode für berührungslose Oberflächenanalyse. Es verfügt auch über eine Reihe von Inspektionsmodus-Einstellungen und optionales Zubehör für jede Wafer-Prüfanforderung. WS 2500 ist mit einer leistungsfähigen Bildgebungssoftware zur Visualisierung und Analyse von Waferfunktionen ausgestattet. Die Software umfasst eine Reihe von Analysetools wie Kantenerkennung, Krümmung, Bilderkennung und robuste Algorithmen, die für die Messtechnik von Submikrometer-Merkmalen optimiert sind. Es enthält auch fortschrittliche statistische Werkzeuge zur Messung kritischer Merkmale, zur Überwachung von Trends und zur Gewährleistung genauer Testergebnisse. RUDOLPH WS 2500 bietet zudem umfassende Reporting-Tools und Optionen. Das Asset kann mit Automatisierungstools zum Testen von Wafern mit hohem Volumen integriert werden, und die Benutzeroberfläche ermöglicht eine einfache Programmeinrichtung, Steuerung und Datenanalyse. Es ist eine zuverlässige, kostengünstige Lösung für Mid-Submicron-Halbleiter-Wafer-Tests und -Analysen.