Gebraucht SCI FilmTek 4000 #9078037 zu verkaufen

SCI FilmTek 4000 ist eine umfassende Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für genaue und zuverlässige Messungen von Dünnschichtschichten auf verschiedenen Substraten entwickelt wurde. FilmTek 4000 verwendet fortschrittliche bildgebende Spektrometrie-Technologien, um eine Vielzahl von Filmdicken von Mikrometern bis zu fünfhundert Nanometern genau zu messen. Dies ermöglicht eine große Flexibilität bei der Steuerung und Überwachung von Folien und Substraten sowie die Bereitstellung von leicht lesbaren Ergebnissen. SCI FilmTek 4000 hat eine breite Palette von physikalischen und chemischen Messungen, einschließlich Messungen von transparenten, undurchsichtigen und gemusterten Folienschichten auf Substraten. Sein modernstes optisches Design ist für hochgenaue Messungen verschiedener Schichtdicken sowohl im Nah- als auch im Fernfeld optimiert. Dieses System hat einen niedrigen Geräuschpegel und eine schnelle Scangeschwindigkeit im Vergleich zu anderen ähnlichen Systemen. Das Gerät verfügt über eine automatisch gesteuerte Kammer, die Sauberkeit beibehält und die Temperatur, Feuchtigkeit und Luftdruck kontrolliert, die für die genaue Durchführung von Tests erforderlich sind. Die Maschine verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche, mit der der Benutzer schnell auf alle Funktionen und Funktionen zugreifen kann. Darüber hinaus verfügt er über einen hochgenauen Encoder für präzise Positionsauflösung und wiederholbare Ausrichtung. FilmTek 4000 hat auch eine Vielzahl von Spezialzubehör zur Verfügung, wie das automatisierte Wafer-Handling-Tool, manuelle und automatisierte rotierende Probenstufen, Temperatur- und Umgebungsregler und mehrere Arten von Maskierungsstufen. Darüber hinaus verfügt die Anlage über automatisierte optische und elektrische Tests und eine Auswahl an mehreren Analysewerkzeugen wie winkelaufgelöste Spektroskopie, Ellipsometrie, Reflexion und Durchlässigkeit. SCI FilmTek 4000 ist ein leistungsstarkes und zuverlässiges Modell, das eine große Flexibilität und Genauigkeit in der Dünnschichtprüfung und Messtechnik bietet. Es ist ideal für die Prozesssteuerung und Entwicklung von hochwertigen optischen, elektronischen und Halbleiterbauelementen.