Gebraucht SDI SPV 1050 #9038081 zu verkaufen

SDI SPV 1050
ID: 9038081
Wafergröße: 8"
Contamination monitoring system, 8".
SDI SPV 1050 ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für eine Vielzahl von Anwendungen konzipiert wurde, von der Wafer-Pegelcharakterisierung bis hin zu Messungen von Geräten auf Stempelebene. Das System wird von der innovativen SDI Focus Detection und Real-Time (FDR) Erfassungstechnologie angetrieben, die die Erfassung optischer Bilder in weniger als zwei Mikrosekunden ermöglicht, ohne dass Bilder verwischt oder verzerrt werden. SPV 1050 verfügt über eine große Arbeitsfläche von über 200mm (8 Zoll) auf einer einzigen Wafer-Struktur, so dass die Prüfung und Charakterisierung der vollen sterben Bilder. Das Gerät kann mit einer Reihe von optischen Komponenten konfiguriert werden, einschließlich Gittern, Objektiven und CCD-Farbkameras, um die Flexibilität und Leistung zu bieten, die für die heutigen anspruchsvollen messtechnischen Anwendungen erforderlich ist. Die FDR-Bildverarbeitungsmaschine ist mit extrem niedrigen Geräuschpegeln für hervorragende Wiederholbarkeit und hohe Empfindlichkeit für Messgenauigkeit ausgelegt. Es ist auch mit einem 400nm Color-Coded Brightness Control (CCBC) ausgestattet, um den Bildqualitätsindex (QI) für verbesserte Genauigkeit zu verbessern. Das Tool verfügt außerdem über einen hochmodernen Active Pixel Sensor (APS) für Hochgeschwindigkeitsbilder sowie eine Kapazität zur Aufnahme von bis zu 8 Megapixel-Bildern in einer einzigen Erfassung. Neben der hervorragenden Wafer-Prüfung und Charakterisierung Leistung, SDI SPV 1050 ist auch gebaut, um Hochtemperatur-Umgebungen und raue Verunreinigungen widerstehen - so dass es die perfekte Wahl für Halbleiterherstellung, Laser, Fabrikautomation und andere ähnliche Umgebungen. SPV 1050 bietet auch ein skalierbares Servicepaket für alle Benutzeranforderungen, von Vor-Ort-Hilfe und Support bis hin zu den umfassendsten Wartungs- und Leistungssicherungsplänen. Darüber hinaus bietet das Asset standardisierte Methoden zur Teilerückverfolgbarkeit, Datenanalyse und -berichterstattung, Werkzeugqualifizierung und -kalibrierung, messtechnischen Verifizierung, Prozesssteuerung und Fehleranalyse. Für die Waferbearbeitung bietet SDI SPV 1050 eine High Performance Adaptive Process Platform (HPAP), die es dem Anwender ermöglicht, eine Vielzahl von Automatisierungsaufgaben schnell zu definieren und auszuführen, einschließlich der Möglichkeit, Prozessparameter ohne manuelle Eingriffe zu überwachen, zu steuern und feinabzustimmen. Mit Hilfe des HPAP können Anwender kürzere Zykluszeiten und höhere Prozesserträge erzielen.
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