Gebraucht SDI SPV 300 #9157370 zu verkaufen

SDI SPV 300 ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das einen umfassenden Einblick in eine breite Palette von Halbleiterprodukten bietet. Mit modernsten Optik- und Beleuchtungssystemen ermöglicht SDI SPV-300 eine beispiellose optische Abdeckung der Waferoberfläche, wodurch die exakte Empfindlichkeit und Genauigkeit erreicht wird, die für jedes einzelne Bauteil eines Halbleiterprodukts erforderlich ist. SPV 300 verwendet die neueste Scan- und Bildgebungstechnologie, um die volle Abdeckung des Testwafers bereitzustellen. Dieses fortschrittliche und umfassende Scansystem ermöglicht die Erfassung hochauflösender Bilder bei schnellen und benutzerdefinierten Scanraten. Der fortschrittliche Bildgebungsprozess sowie die Flexibilität, die SPV-300 bietet, ermöglichen die Erfassung von Bildern in einer Vielzahl von Größen, Auflösungen und Setups, sodass Benutzer den Wafer über verschiedene Wellenlängen analysieren können. SDI SPV 300 verfügt auch über erweiterte Echtzeit-Messtechnik-Funktionen. Dies ermöglicht die Echtzeit-Analyse und Messung von Testobjektmerkmalen mit extremer Genauigkeit und Genauigkeit, wodurch die Parameter des Testartikels in Echtzeit ausgewertet werden können und Testartikel, die nicht den geforderten Qualitätsstandards oder Anforderungen entsprechen, effektiv durchleuchtet werden können. Durch die Verwendung einer Kombination von Hochgeschwindigkeits-ladungsgekoppelten Gerätekameras (CCD) und optischen Hochvakzum-Systemen zeichnet sich SDI SPV-300 durch Wafertest- und messtechnische Anwendungen aus. Dies liegt vor allem an der großen Anzahl miniaturisierter Bauteile, die unter einem Elektronenstrahlmikroskop auf dem Wafer untergebracht werden können. Es ist auch in der Lage, Wafer mit sehr kleinen Merkmalsgrößen zu inspizieren, die sonst für Standardmikroskope oder Abbildungssysteme nicht sichtbar wären. Das beeindruckende Feature-Set und die Leistung des SPV 300 machen es zu einer idealen Lösung für Wafertests und messtechnische Anwendungen, insbesondere für Halbleiterprodukte mit engen Genauigkeits- und Qualitätsanforderungen. Die einzigartige optische Abdeckung und das Hochgeschwindigkeits-Bildgebungssystem ermöglichen dem Anwender einen beispiellosen Einblick in das Gerät oder die Funktion des zu testenden und zu messenden Wafers. Als solches eignet sich SPV-300 gut für Anwendungen wie IoT-Geräte, fortgeschrittene ICs und alle anderen Anwendungen, die hohe Präzision und Qualität erfordern.