Gebraucht SDI SPV CMS 4000 #9208942 zu verkaufen

SDI SPV CMS 4000 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik. Dieses System wurde entwickelt, um die fortschrittlichen Funktionen eines speziellen Wafertesters und einer Metrologie-Einheit zu einer Maschine für eine kostengünstige und effiziente Wafermessung zu kombinieren. SPV CMS 4000 ist ein automatisiertes Werkzeug, das in eine dreidimensionale Koordinatenmessmaschine (CMM) integriert ist. Das CMM Schnittstellen mit einem Wafer-Tester und Messtechnik-Asset, so dass Wafer-Test und Auswertung im gleichen Modell. Das CMM bietet auch eine umfassende Palette von Test- und Auswertefunktionen für Wafer, einschließlich Sichtprüfung, Messung der Dicke und elektrische Prüfung. SDI SPV CMS 4000 ist mit erweiterten Bildgebungsfunktionen ausgestattet, einschließlich Bildaufnahme, Bildausrichtung und Bildanalyse. Die Bildaufnahme ermöglicht die Aufnahme hochauflösender Bilder des Wafers, die eine genaue Auswertung der elektrischen Leistung und Strukturierbarkeit des Wafers ermöglichen. Die Bildausrichtung stellt sicher, dass das CMM für genaue Wafertests und -auswertungen korrekt positioniert ist. Die Bildanalyse ermöglicht eine genaue Analyse des Wafers, einschließlich Messungen der Wafer-Merkmale wie Krümmungsradius und Spalt zwischen den Matrizen. SPV CMS 4000 bietet eine breite Palette von Testparametern, einschließlich automatischer und manueller Tests, Testspannungsbereich, Wechselstrom- und Gleichstromtests und mehrerer Testkanäle. SDI SPV CMS 4000 bietet auch Unterstützung für benutzerdefinierte Testformate und -programme, die eine maßgeschneiderte Prüfung und Auswertung bestimmter Wafertypen ermöglichen. SPV CMS 4000 bietet neben seinen Wafer-Testfähigkeiten auch eine umfassende Palette von Messungen und Berechnungen nach dem Test, wie die Analyse mehrerer Timing-Parameter, die Messung des Kontaktwiderstandes und die Berechnung der elektrischen Parameter des Wafers. Die Analyseergebnisse werden in einem grafischen Format dargestellt, das eine genaue und detaillierte Auswertung des Wafers ermöglicht. SDI SPV CMS 4000 ist eine kostengünstige und effiziente Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die eine genaue Analyse zur Ertragskontrolle und Prozessoptimierung ermöglicht. Dieses System bietet Anwendern eine integrierte und automatisierte Einheit für Wafertests und Messtechnik, die eine effiziente und zuverlässige Waferanalyse ermöglicht.