Gebraucht SEMILAB SSM2000 #293661704 zu verkaufen

SEMILAB SSM2000 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik für die Forschung und Entwicklung von Halbleiterbauelementen. Es bietet erstklassige automatisierte WaferSize-Tests, Messtechnik und Fehlererkennungsfunktionen. SEMILAB SSM 2000 ist in der Lage, sowohl elektrische als auch optische Messungen an Metall/Halbleiterproben durchzuführen. Das System bietet Flexibilität und ein breites Spektrum an Funktionen für ein breites Spektrum an Kundenanforderungen. SSM2000 verwertet einen höheren waferSize Prüfung der Automationsarchitektur, um Genauigkeit und Zuverlässigkeit zu sichern. Seine erweiterten Automatisierungsfunktionen ermöglichen es dem Gerät, automatisch das beste Testrezept auszuwählen, Testparameter anzupassen und eine Kombination von Messkonfigurationen für optimale Leistung auszuwählen. Zusätzlich enthält die Maschine eine hochgenaue lineare XYZ Motor Scanning Unit (MSU) für berührungslose Tests. SSM 2000 bietet auch optische Messtechnik mit einem automatisierten Fokussierwerkzeug für hochauflösende genaue Messungen. Die integrierten optischen Bildgebungs- und Kamerafunktionen des Asset bieten eine schnelle und genaue Fehlererkennung. SEMILAB SSM2000 verfügt über ein integriertes faseroptisches Abfragemodell, mit dem dotierte und nicht dotierte Bereiche gemessen werden können. SEMILAB SSM 2000 wurde für maximale Flexibilität und Skalierbarkeit mit erweiterbaren Modulen und anpassbarer Software entwickelt, um eine breite Palette von Kundenanforderungen zu unterstützen. Die Geräte verfügen über eine Vielzahl von Datenerfassungstools wie benutzerdefinierte statistische Analysen, Datenberichtsprozesse und Trendanalysen. Es enthält auch eine intuitive Benutzeroberfläche, anpassbare Software und eine breite Palette von anderen Funktionen. Insgesamt bietet SSM2000 höchste Leistung und Genauigkeit, um extrem zuverlässige Test- und Metrologieergebnisse für die Forschung und Entwicklung von Halbleiterbauelementen zu gewährleisten. Dieses System bietet Anwendern eine effiziente und zuverlässige Plattform für automatisierte WaferSize-Tests, Messtechnik und Fehlererkennung.