Gebraucht SENSOFAR 3D Surface profilers #293672431 zu verkaufen

ID: 293672431
SENSOFAR 3D Surface Profiler ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die extrem genaue Messungen der dreidimensionalen Formen von Oberflächen ermöglicht. Es verwendet fortschrittliche optische Abtasttechnologie, um die Oberflächentopographien von Halbleiterscheiben mit hoher Auflösung und Genauigkeit zu messen. Das System kombiniert ein modernes optisches interferometrisches Instrument mit einem proprietären Algorithmus der 3D-Profilometrie, um ein hochgenaues und zuverlässiges Werkzeug für die Prüfung und Analyse von Halbleiterscheiben zu schaffen. Die fortschrittliche optische Abtasttechnologie und der 3D-Profilometrie-Algorithmus ermöglichen es dem Gerät, hoch detaillierte, genaue und präzise Formmessungen von der Oberfläche des Wafers zu erfassen. Sie misst nicht nur die Oberflächentopographie eines Wafers, sondern auch die verschiedenen Merkmale und Konturen der Waferoberfläche. Die Maschine ist in der Lage, eine Vielzahl von Halbleiterwafern zu messen, einschließlich mono- und multikristalliner Wafer, SOI (Silicid auf Isolator) Wafer und gebundene Wafer. Es misst auch Wafer, die stark reflektierend sind und so in der Lage sind, umfangreiche Details der Oberfläche zu messen. Das Werkzeug kann Dünnschichtoberflächen auch mit hoher Geschwindigkeit und Genauigkeit messen. 3D-Oberflächenprofiler bieten eine extrem genaue Auflösung innerhalb von +/- 5nm. Es arbeitet auch mit einer hohen Geschwindigkeit und erzeugt ein 3D-Profil von Wafern in nur 24 Sekunden. Die Messungen und Ergebnisse der Anlage sind aufgrund der fortschrittlichen 3D-Profilometrie-Algorithmen sehr zuverlässig. Das Modell ist sehr flexibel und aufrüstbar, so dass es seine Fähigkeiten erweitern kann, um die Bedürfnisse seiner Kunden zu erfüllen. SENSOFAR 3D Surface Profiler ist eine leistungsfähige und zuverlässige Ausrüstung, die hochgenaue und detaillierte Messungen von Halbleiterscheiben liefert. Es ist in der Lage, außergewöhnliche Auflösung und Geschwindigkeit bei hoher Zuverlässigkeit und Genauigkeit zu bieten. Dies macht es eine ideale Wahl für diejenigen, die Halbleiterscheiben mit Präzision messen und analysieren müssen.
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