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SENTECH FTPadv ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um eine breite Palette von physikalischen und elektrischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben zu messen. Es ist ein vollautomatisches System, das hochpräzise optische, abtastende und bildgebende Technologien verwendet, um die physikalischen Eigenschaften des Wafers wie Strukturierung, Dicke, Reflexion und Absorption genau zu messen. FTPadv ist mit einer Reihe verbesserter Sensortechnologien für höhere Empfindlichkeit und Genauigkeit ausgestattet. Es unterstützt auch mehrere Messprotokolle, einschließlich Streuung, 2D-Bildgebung und 3D-Bildgebung. SENTECH FTPadv liefert genaue und präzise Messungen auch auf gekrümmten Oberflächen und im Nanometermaßstab. Die fortschrittlichen Interpolationsalgorithmen und Bildverarbeitungstechniken des Geräts sorgen auch bei kleinen Gerätefunktionen für hochgenaue Messungen. Es verfügt auch über eine Vielzahl von Anzeige- und Analysefunktionen, so dass Benutzer Fehler leicht erkennen und die Ergebnisse in Echtzeit analysieren können. Die hohe Genauigkeit der Maschine wird auch durch ihre leistungsstarke Optik und Probenbeleuchtung erreicht, was eine extrem enge Abtastung der Oberfläche ermöglicht. Die Benutzeroberfläche ist einfach und intuitiv, so dass der Benutzer schnell und einfach auf Waferergebnisse, Einstellungen und Analyseparameter zugreifen kann. Das Gerät kann auch mit mehreren externen Software zur weiteren Datenanalyse und Verarbeitung kommunizieren. Darüber hinaus verfügt FTPadv auch über eine präzise Probenpositionierung mit hoher Auflösung, um effiziente und Hochgeschwindigkeitsmessungen zu gewährleisten. Um die Sicherheit und Langlebigkeit des Werkzeugs zu gewährleisten, verwendet die automatisierte Test- und Messtechnik mehrere ausfallsichere Mechanismen, die vor Modellfehlern und Fehlfunktionen schützen. Es ist auch vibrations- und staubdicht ausgelegt, um höchste Sauberkeit und Zuverlässigkeit bei der Prüfung zu gewährleisten. Insgesamt stellt SENTECH FTPadv die neueste Technologie in Wafer-Prüf- und Messtechnik-Systemen dar. Seine präzisen und präzisen Messungen, kombiniert mit seiner intuitiven Benutzeroberfläche und automatischen ausfallsicheren Mechanismen machen es zur idealen Wahl für Halbleiter- und Mikroelektronikhersteller und Tester.
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