Gebraucht SHIBAURA AutoEL-IV #293616278 zu verkaufen

SHIBAURA AutoEL-IV ist eine hochentwickelte Wafer-Prüf- und Messtechnik, die den hohen Anforderungen der Halbleiterindustrie gerecht wird. Das System besteht aus einer ganzen Reihe von Technologien und Prozessen, die eine umfassende Analyse und Prüfung einer Vielzahl von Wafersubstraten ermöglichen. Kern von AutoEL-IV ist die integrierte CCD-Bildverarbeitungseinheit. Dies nutzt eine einzigartige Kombination aus proprietärer Bildaufnahme-, Verarbeitungs- und Analysesoftware, um Daten im Zusammenhang mit Defektmetrie, Partikelanzahl und Gleichmäßigkeitsmessungen zu sammeln und zu analysieren. Durch hochvergrößerte Linsensysteme und ausgefeilte Analysealgorithmen bietet die Maschine eine vollständige Abdeckung aller Waferoberflächen sowie eine vollständige Palette manueller und automatisierter Bildverarbeitungsfunktionen. Neben seinen bildgebenden Funktionen bietet SHIBAURA AutoEL-IV auch eine fortschrittliche Messtechnik-Suite. Dazu gehören eine Vielzahl von Sensoren auf optischer und mechanischer Basis sowie kontaktlose Messgeräte zur genauen Erkennung physikalischer Eigenschaften im Mikro- und Nanoskala. Verbunden mit Hochleistungsbildaufbereitungsinstrumenten berücksichtigt das äußerst genaue Datenerfassung und Analyse für eine breite Reihe von Anwendungen. AutoEL-IV bietet auch eine Plattform zum Scribing und Ausdünnen von Wafern. Dies wird durch spezielle Geräte erreicht, die zum Würfeln und Dünnen von Wafern mit einer Kombination aus Laser-, Wärme- und mechanischen Exzisionstechniken verwendet werden können. Dadurch wird sichergestellt, dass Wafer so aufbereitet werden, dass sie alle erforderlichen Spezifikationen erfüllen und von den verschiedenen messtechnischen und bildgebenden Instrumenten des Werkzeugs genau analysiert werden können. Schließlich ist SHIBAURA AutoEL-IV so konzipiert, dass es hoch konfigurierbar ist, um den Anforderungen einer bestimmten Anwendung gerecht zu werden. Mit seinem modularen Design können Anwender das Asset einfach anpassen, um verschiedene zusätzliche Technologien wie automatisierte Sichtprüfung, Foliendicke und Ebenheitsmessungen, Fehlerklassifizierung und Partikelgrößenanalyse einzubinden. All-in-all, AutoEL-IV ist ein leistungsfähiges Wafer-Prüf- und Messtechnik-Modell, das Anwendern eine extrem leistungsfähige und umfassende Plattform für die Analyse und Prüfung von Halbleiterscheiben bietet. Mit seinen fortschrittlichen integrierten Bildgebungs- und Messtechnik-Systemen, kombiniert mit einer Reihe zusätzlicher Anpassungsoptionen, wurde das Gerät entwickelt, um den Anwendern die genauen Daten zur Verfügung zu stellen, die für den Erfolg ihrer Halbleiterherstellung erforderlich sind.