Gebraucht SIGMA KOKI SGSP26-150 #9358498 zu verkaufen

ID: 9358498
Wafergröße: 6"
Film thickness meter, 6".
SIGMA KOKI SGSP26-150 ist eine innovative Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die genaue, detaillierte und wiederholbare Messungen an dünnen Wafern und dünnen Waferstrukturen auf schlanke, automatisierte Weise ermöglicht. SGSP26-150 verfügt über eine 1,50 Meter lange Bank-Top-XY-Bühne mit einer 90 cm Arbeitsfläche für den Einsatz mit Wafern bis 300 mm Durchmesser. Es kann einen breiten Bereich von 0,15 mm bis 30 mm dünne Wafer genau messen - bietet genaue Details des Querschnitts des Wafers. SIGMA KOKI SGSP26-150 verfügt zudem über eine integrierte Auto Focus-Funktion sowie ein LED-Beleuchtungssystem, das eine hochintensive Lichtquelle zur Messung des Probenprofils bereitstellt, ohne die Genauigkeit der Ergebnisse zu beeinträchtigen. Das Gerät kann bis zu 2000 Bilder pro Minute aufnehmen und kann eine maximale Probengröße von 3 m messen. SGSP26-150 ist mit einer Vielzahl von Messfunktionen für erweiterte 2D- und 3D-Messtechnik ausgestattet. Es unterstützt den automatischen Messmodus und bietet verschiedene Arten von benutzerdefinierten Messungen für verschiedene Waferparameter wie Oberflächenrauhigkeit, Materialstärke, Profil und 2D/3D-Tomographie. Darüber hinaus verfügt die mitgelieferte Analysesoftware über eine einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche (GUI), mit der Benutzer ihre Ergebnisse schnell analysieren und interpretieren können. Die Maschine ist mit einer leistungsfähigen Auswertefunktion zur Berechnung und Anzeige verschiedener Parameter wie Mustergröße, Oberflächenrauhigkeit, Musterform, Materialstärke und vieles mehr ausgestattet. Darüber hinaus ermöglicht ein ausgezeichnetes Datenverwaltungstool eine effiziente Datenspeicherung und -abfrage. Für fortgeschrittene Anwender bietet SIGMA KOKI SGSP26-150 auch leistungsstarke Funktionen zur Analyse über fortgeschrittene Algorithmen. SGSP26-150 ist eine effektive Lösung für jede Branche, die genaue, präzise und wiederholbare Messungen an dünnen Wafern und Waferstrukturen erfordert. Mit intuitiven Bedienungs- und leistungsstarken Messtechnikfunktionen ist diese Komponente ideal für die Erfüllung der Anforderungen einer Vielzahl von Wafer-Test- und Messtechnik-Anwendungen.
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