Gebraucht SIGNATONE / LUCAS LABS 302 #9397382 zu verkaufen

SIGNATONE/LUCAS LABS 302 Wafer Testing and Metrology Equipment bietet eine genaue Analyse von Halbleiterscheiben durch Leistungs-, Test- und Messtechnik-Scanning. Durch den Einsatz von berührungslosen Laserscanning wertet das System SIGNATONE 302 Wafer schnell und effizient bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen und -materialien aus. LUCAS LABS 302 Wafer Testing and Metrology Unit enthält einen Controller, einen Scankopf und eine Kamera, um Echtzeit-Feedback der Ergebnisse zu liefern. Dies ermöglicht eine schnelle Abtastung von Strukturen mit hohem Seitenverhältnis bei gleichmäßiger Auflösung und bietet genaue und zuverlässige Messungen für Eigenschaften im Nanometermaßstab. Der Hochleistungslaser der Maschine scannt präzise Plattenabmessungen, vorkonditionierte Oberflächen und elektrische Parameter und ist damit ideal für Poreninspektionen und Instant-In-Line-Messtechnik-Anwendungen geeignet. Die von 302 gesammelten Daten werden mittels fortschrittlicher Algorithmen analysiert und die Ergebnisse in Echtzeit angezeigt. Die hochauflösenden Bilder und Oberflächenanalysen dienen zur Messung der Positions- und Maßgenauigkeit und ermöglichen eine schnelle und effiziente Waferauswertung. Nach Abschluss der Auswertung können die Bilder gespeichert und für weitere Vergleiche und Analysen archiviert werden. SIGNATONE/LUCAS LABS 302 kann auch verwendet werden, um Partikel, mikrobiologische und chemische Verunreinigungen und kleine Defekte auf Siliziumscheiben zu erkennen und zu lokalisieren. Mit seiner nichtlinearen Oberflächenmessung und Präzisionswerkzeugdefekterkennung ist das Werkzeug in der Lage, auch kleinste Fehler zu erkennen. Die automatisierten 3D-Rekonstruktionsalgorithmen des Asset liefern detaillierte Fehlerinformationen wie Konturen, Oberflächen und Texturen. SIGNATONE 302 Wafer Testing and Metrology Model bietet Zuverlässigkeit und Genauigkeit bei der Prüfung, was zu verbesserten Erträgen und Kosteneinsparungen für Kunden führt. Die schnellen Scan- und Bildgebungsgeschwindigkeiten der Geräte werden durch fortschrittliche Technologien wie die Verwendung mehrerer Laserwellenlängen, optischer Fasern und anpassbarer Software ermöglicht. Darüber hinaus ist das System darauf ausgelegt, die Produktionseffizienz zu maximieren, so dass es ideal für Tests und messtechnische Anforderungen ist.