Gebraucht SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO Chips200 #9043060 zu verkaufen

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO Chips200 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die präzise und Echtzeit-Messungen kritischer elektrischer, physikalischer und optischer Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und -materialien ermöglicht. Es ermöglicht die Analyse von Waferoberflächendaten, einschließlich Merkmals-/Dehnungsmessung, Nanometerskalenanalyse und Fehleranalyse. Das System verfügt über eine einzigartige Palette von Abbildungstechniken, einschließlich optischer polarisierter Bildgebung, Dunkelfeld-Bildgebung und Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD). Diese Techniken ermöglichen eine hochauflösende Bildgebung und eine funktionalitätsspezifische Analyse einer Vielzahl von Merkmalen wie Korngrenzen, Schnittstellenrauhigkeit und Mikrodefekte. Die Dunkelfeld-Bildgebungsfähigkeit der Einheit ermöglicht es, morphologische Merkmale wie Versetzungen, Korngrenzen, Zwillinge, Oxidschichten und mehr zu erkennen. Dies ist besonders nützlich für die Fehleranalyse, da Benutzer eine Vielzahl von Fehlern beobachten und lokalisieren können. Die EBSD-Technik verwendet derweil einen Elektronenstrahl, um ein Beugungsmuster von Kristallorientierungen zu erzeugen. Damit lassen sich die kristallinen Strukturen des Wafers genau messen und Informationen über Kristallorientierung, Korngröße und Kristalldefekte liefern. Die Maschine ist auch mit fortschrittlichen Wafer-Messtechnik-Fähigkeiten ausgestattet. Es kann automatisch dreidimensionale Parameter messen, einschließlich CD (kritische Bemaßung), Kontaktbohrungsgröße, Linienbreite und Überlagerung. Auf diese Weise können SEIKO Chips200 schnell Daten generieren, mit denen die Geräteleistung ausgewertet werden kann. Das Tool ist einfach einzurichten und zu bedienen. Es kommt mit einer grafischen Benutzeroberfläche (GUI), die intuitiv auch für unerfahrene Benutzer ist. Es verfügt auch über eine hochautomatisierte Bedienung und Dateneingabe, was es sehr effizient und kostengünstig macht. Insgesamt ist SII NANOTECHNOLOGY Chips200 ein leistungsfähiges und vielseitiges Wafer-Test- und Messtechnik-Asset. Es bietet eine breite Palette von Möglichkeiten zur Durchführung von hochpräzisen Messungen und Analysen von Halbleiterbauelementen. Die fortschrittlichen Bildgebungstechniken und der automatisierte Betrieb machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug zur Überwachung der Gerätequalität und -leistung.